小轴承球上的残余应力深度分布

在此应用中，残余应力深度分布是从4毫米轴承球测量的。

问题：轴承滚珠上的残余应力

可以通过从表面电化学去除材料并测量作为深度函数的残余应力来研究硬化钢样品的次表面特性。

例如检测Ø4mm球轴承的残余应力的深度剖面分布，为了满足标准 EN 15305无损检测标准，一般采用X 射线衍射法进行测试，同时需要选择0.3毫米准直器来测量。使用传统的 X射线衍射设备一般单次测量需要1小时55分钟。在残余应力深度剖面中，通常进行4-6次单独的残余应力测量，同时需要在测量中对材料进行电解抛光。在三个方向测量残余应力时，测量一个深度剖面需要34.5小时。

检测方法：X射线衍射法

在测量之前，将滚珠轴承固定到在带有化学金属环氧树脂衬垫的铝块上，以便保持与铝块的电流接触，并且在深度测量期间球可以保持静止。

图1. 测量设置：轴承滚珠的残余应力测量

测量采用XStressDR45和XStressStudio软件完成。集成2D探测器沿着Debye-Scherrer环（图 2），3秒曝光时间内收集的衍射峰数据如图3所示。在三个方向测量残余应力时，测量时间为每个深度3分钟，这意味着每个深度剖面测量时间需要18分钟。

测量样品残余应力分布如图4所示。

图2：检测器数据

图3：综合峰

测量结果

图4：轴承滚珠上的残余应力深度分布。

此应用所使用的仪器Xstress DR45为最新一代X射线残余应力分析仪，以前所未有的速度提供了高质量测量数据。

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