台式 XRD 快速表征多孔材料有序结构|COF/MOF/介孔氧化铝一站式区分

2026-07-28 09:57:05, 赛默飞化学分析 赛默飞智能制作与过程分析



多孔骨架材料(COF、MOF、介孔氧化铝)凭借高比表面积可调有序孔道,是吸附、催化、分离领域核心材料。不同类型材料骨架维度、孔道排布差异巨大,粉末 X 射线衍射(PXRD)是快速分辨其结构有序性的核心表征手段。本文采用赛默飞 ARL X’TRA Companion 台式 XRD,对比三类典型多孔材料的衍射特征,验证台式设备对多孔材料结构快速定性与定量分析能力。



仪器配置

ARL X’TRA Companion 为小型台式衍射仪,采用 160 mm 半径 θ/θ 测角仪、布拉格-布伦塔诺光路,配备 600 W 铜/钴双可选靶源,搭配 55×55 μm 固态像素探测器,采集速度快。配套 SolstiX Pronto 软件支持一键 Rietveld 定量,数据可自动对接实验室 LIMS 系统,光束狭缝与可调光刀有效降低空气散射,可选配水冷机组适配长时间测试。

图1.ARL X’TRA Companion X 射线衍射仪(点击图片查看产品详情及索取报价)



实验方案

测试样品:

二维层状COF(Py MV DBA)、三维锆基 MOF NU-1000、介孔 SBA-15 氧化铝。

测试条件:

Cu Kα 射线(λ=1.541874 Å),反射模式、样品旋转,单次采集 30 min;零背衬样品杯上样,Profex 软件完成 Le Bail 精修解析图谱。



三类多孔材料衍射特征对比

二维层状COF(Py MV DBA,图2)

六方晶系(P6/mmm),晶格参数 a≈4.227 nm、c≈0.331 nm。2θ≈2.41° 强衍射峰证明大尺寸面内有序孔道,26.9° 处(001)峰对应薄层堆叠距离仅 0.331 nm;典型特征为“强面内周期性+短层间堆叠”,兼具高比表面积与贯通介孔。

图2.Py MV DBA 型二维 COF 样品 30 分钟测试 Le Bail 精修图谱(点击查看大图)


三维MOF NU-1000 (图3)

六方晶胞 a≈3.954 nm、c≈1.663 nm,c 轴周期显著更长。全角度区间分布多条尖锐布拉格衍射峰,无层状特征,代表完整三维周期性晶体骨架。作为经典锆基 MOF,化学稳定性强、具备分级孔道,是催化分离常用刚性多孔材料。

图3.NU1000 MOF 样品 30 分钟测试 Le Bail 精修图谱(点击查看大图)


介孔SBA-15氧化铝 (图4)

仅在超低角度出现六方有序孔道衍射峰,主峰(100)位于 2θ≈0.90°,对应晶面间距 9.85 nm,晶格参数 11.4 nm;高角度无尖锐晶相峰,证明孔壁为无定形氧化物。材料有序仅来源于介观孔阵列,是评估小角度 XRD 性能的标准参比样品。

图4.SBA-15 氧化铝样品 30 分钟测试 Le Bail 精修图谱(点击查看大图)



核心结论

三类材料衍射信号区分度极高,仅依靠台式 XRD 即可快速判定骨架类型:

1

COF:

层状二维结构,小角度系列峰+高角度层堆叠衍射;

2

NU-1000 MOF:

全角度多组尖锐衍射,三维晶态骨架;

3

SBA-15 介孔氧化物:

仅小角度孔道峰,无原子尺度结晶。

配合 Le Bail 精修无需完整晶体模型,即可快速提取晶胞参数,量化孔道有序程度。



设备应用优势

快速采集

数分钟完成测试,小角度数据直接计算孔道周期与晶格参数;

多维度评估

兼顾低角度孔有序表征、高角度骨架结晶度判定;

高效质控

快速精修定量,快速区分层状、三维晶态、无定形介孔三类材料;

适配实验室常规检测、新材料筛选与工业化产品质量管控,为吸附、催化、优化提供结构依据。


参考文献

[1] N. Döbelin, R. Kleeberg, J. Appl. Crystallogr. 2015, 48, 1573-1580.

[2] A. Le Bail, H. Duroy, J. L. Fourquet, Mater. Res. Bull. 1988, 23, 447-452.

[3] J. W. Crowe, L. A. Baldwin, P. L. McGrier, J. Am. Chem. Soc. 2016, 138, 10120–10123.

[4] T. Islamoglu, K.-i. Otake, P. Li, C. T. Buru, A. W. Peters, I. Akpinar, S. J. Garibay, O. K. Farha, CrystEngComm 2018, 20, 5913.

[5] D. Zhao, Q. Huo, J. Feng, B. F. Chmelka, G. D. Stucky, J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 6024–6036.


更多资料

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