邀您赴约!理学新产品宣讲会精彩待启!

2025-09-05 11:20:41 理学中国




BCEIA

北京分析测试学术报告会暨展览会

理学新产品宣讲会

以卓越科技 成就探索之力


2025/09/11 10:00~11:30

中国国际展览中心 顺义馆E3馆- A会议室


尊敬的先生/女士:

您好!

     谨代表理学中国,向您致以诚挚的问候与热烈的邀请!

      第二十一届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)即将启幕,作为全球分析测试领域的年度盛会,BCEIA 始终是汇聚前沿技术、链接科研与产业需求的核心平台。值此行业盛典之际,理学中国隆重举行 X 射线价态定量分析(XES)新技术宣讲会,诚邀您拨冗莅临,共鉴价态定量技术的创新进程!



理学中国

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XES Chimica 产品特性




      x射线发射光谱(XES)是一种化学状态分析方法,通过测量具有高能量分辨率的荧光X射线,可以显示化合物成键状态分布的变化。常规X射线荧光设备并不能分辨价态,主要是由于能量分辨率不足,通常不足以辨别价态变化引起的能级位移。

      理学X射线发射光谱仪XES Chimica搭载了新开发的光学系统, 在不使用同步辐射光源的情况下,可以在实验室环境中通过精细测量光谱的化学位移和谱线变化,高精度地评估分析材料的化学状态。该仪器配备了晶体自动转换机制、样品自动转换机制,以及定量分析用软件,具有高操作性和实用性。


01

能力范围|元素覆盖广

覆盖从氧 O 至铀 U,轻重元素一机到位。


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性能精度|分辨率与可靠性    

  • 超高分辨率,能够捕捉价态的细微变化

  • 稳定高重现,结果一致可靠


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操作体验|数据更省心

软件自动推荐测试参数,数据处理简便,无需进行傅里叶变换


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场景扩展|从体材料到原位

  • 体材料信息:毫米级面积内,探测深度约 1–1000 µm

  • 宽域适用:目标元素浓度 0.1%–100%

  • 原位充放电:实时监测电极材料价态变化


XES Chimica



02

活动时间/地点



2025年9月11日    10:00-11:30

中国国际展览中心顺义馆E3馆-A会议室  

场馆内地图




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活动报名



来宣讲会,您将获得

  • 技术原理与光学方案解析:如何在实验室内实现高分辨价态分析

  • 实测案例分享:原位充放电、反应过程追踪与体材料应用示例

用微信扫码或长按识别,报名本次发布会!

席位有限,建议尽早登记以便预留技术交流时段。

  • 适合人群:电池/催化/合成与表征相关的科研与工程人员

由于本次发布会在第21届BCEIA展会现场中,所以预约到访本次发布会,需要先注册第21届BCEIA,注册二维码如下:

用微信扫码或长按识别,

注册BCEIA展会



  • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
  • 京ICP备07018254号
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