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TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于制药分析领域
EDXRF中X射线的出入射角度通常约为40度,分析深度通常发生在近表层100μm左右,有较强的背景及基体影响;TXRF为EDXRF的变种,其入射角度<0.1度,分析深度通常<1μm,原级束几乎被全反射。
仪器简介
TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声,亦可减少样品使用量。
TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上,创新光学编码器的步进电机,保证精确角度测量,软件控制Mo/W靶可自由切换,采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。
应用范围
TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量,可进行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),广泛的应用在环境分析(水、灰尘、沉积物、大气悬浮物),制药分析(生物体液和组织样品中的有害元素),法医学(微小证据分析),化学纯度分析(酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂),油品分析(原油、轻质油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半导体材料分析(挥发相分解),核材料工业(放射性元素分析)。
主要特点■ 单内标校正,有效简化了定量分析,无基体影响;■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析;■ 多元素实时分析,可进行痕量和超痕量分析;■ 不受样品的类型和不同应用需求影响;■ 独特的液体或固体样品的微量分析,分析所需样品量小;■ 优良的检出限水平,元素分析范围从钠覆盖到钚;■ 出色的动态线性范围;■ 无需任何化学前处理,无记忆效应;■ 非破坏性分析,运行成本低廉。
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HORIZON 全反射X荧光光谱仪
高沸点石油化工物质及其衍生物中痕量元素的检测是一项挑战性工作,样品测量结果与样品前处理息息相关。前处理方法包括稀释样品,灰化法分解样品,湿法分解样品等。溶剂稀释是一种快速、简单的方法,但是稀释样品,由于基体效应等因素很容
本文章研究了全反射X射线荧光光谱法(TXRF)用于雨水样品痕量元素分析的适用性。这项研究被用来开发新加坡国立大学的雨水标样,通过测试得出痕量元素Mn,Fe,Ni,Cu,Zn,V和Pb的平均精密度在16%以内,浓度低于20
基于一系列认证标准(NIST,ENEL,ICJP),本文证明了使用全反射X射线荧光(TXRF)技术分析石油原油衍生物(汽油,柴油,燃料油)的可能性。定量分析是通过内标法进行的,一些挥发性元素(如柴油中的S和石油中的Pb等
本文使用全反射X射线荧光(TXRF)方法测定石化中间体或终产品中的痕量金属元素。该方法结合了基于内标(有机镓标样)的快速检测和简便的样品制备技术,即在载样片上沉积蒸发后的样品基质,以及有效的定量方法,检测限低于0.05μ
全反射X射线荧光技术(TXRF)是能量色散型X射线荧光(EDXRF)技术的高级变体,是一种相对较新的材料表征技术。与EDXRF相比,TXRF的几何改进导致检测极限提高了几个数量级。 TXRF主要用于三类应用:痕量元素分析
酱油是东亚和东南亚地区常见的烹饪佐料,具有比较复杂的基体,包括高盐分基质(NaCl高达15%)和其他相关15%的有机组分。在之前的文献中,并无此类样品中微量元素测定的方法,同时也没有提出全反射X射线荧光(TXRF)的检测
此项工作是对此前介绍的空气颗粒物(PM)滤膜检测方法的改进。用一种新型专用实验室仪器实现空气颗粒物(PM)滤膜的X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)检测。同时进行XSW和TXRF检测的主要优点是可以区分样品
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时,受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测,与样品内待测元素的含量相关,此为XRF光谱仪的理论依据。根据分光系统的不同,XRF光谱仪
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)主要包括:X射线源、光路系统、进样系统、探测器、数据处理系统及其他附件,下文主要介绍前四部分。一、X射线源:由高压发生器及射线管组成。提供初级X射线,对样品中待测元素进行激发得到X射线荧
基于X射线荧光能谱法, 全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角,由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X射线光束几乎全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体
APD 2000 PRO 粉末X射线衍射仪
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