空气颗粒物(PM)滤膜检测--- X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)法

此项工作是对此前介绍的空气颗粒物(PM)滤膜检测方法的改进。用一种新型专用实验室仪器实现空气颗粒物(PM)滤膜的X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)检测。同时进行XSW和TXRF检测的主要优点是可以区分样品的性质：小液滴干燥残留物、薄膜样品或大块样品；另一方面，它选择合适的全反射角进行TXRF测量。后，更换X射线源以精确检测更轻及更重的元素(例如，X射线管阳极由Mo改为Cu)。本研究的目的是为空气颗粒物(PM)滤膜的定量分析方法奠定理论基础，通过外标法手段提高精确度和效率。所提出和探讨的理论模型表明，空气颗粒物(PM)滤膜可以看作是薄膜样品。在实验室中制备一组参考样品，用于绘制校准曲线。结果表明，本文提出的空气颗粒物(PM)滤膜定量检测方法经济可靠、无需对滤膜进行消解即可进行定量分析，利用XSW方法提高了TXRF分析的准确度。