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仪器简介
TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声,亦可减少样品使用量。
HORIZON 配备了12位样品台自动测量,创新光学编码器的步进电机,保证精确角度测量,采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。
主要特点■ 单内标校正,有效简化了定量分析,无基体影响;■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析;■ 多元素实时分析,可进行痕量和超痕量分析;■ 不受样品的类型和不同应用需求影响;■ 独特的液体或固体样品的微量分析,分析所需样品量小;■ 优良的检出限水平,元素分析范围从钠覆盖到钚;■ 出色的动态线性范围;■ 无需任何化学前处理,无记忆效应;■ 非破坏性分析,运行成本低廉。
HORIZON 全反射X荧光光谱仪,HORIZON
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TX 2000 全反射X荧光光谱仪
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