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仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射
仪器简介
TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声,亦可减少样品使用量。
HORIZON 配备了12位样品台自动测量,创新光学编码器的步进电机,保证精确角度测量,采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。
主要特点■ 单内标校正,有效简化了定量分析,无基体影响;■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析;■ 多元素实时分析,可进行痕量和超痕量分析;■ 不受样品的类型和不同应用需求影响;■ 独特的液体或固体样品的微量分析,分析所需样品量小;■ 优良的检出限水平,元素分析范围从钠覆盖到钚;■ 出色的动态线性范围;■ 无需任何化学前处理,无记忆效应;■ 非破坏性分析,运行成本低廉。
HORIZON 全反射X荧光光谱仪价格
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TX 2000 全反射X荧光光谱仪
基于X射线荧光能谱法,全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角,由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X射线光束几乎全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的
全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析(Microanalysis)方法,特别适用于样品量小的样品,一次分析所需样品量,固体材料可达微克级,液体样品则通常少于100μL。但一般原样很少能直接上机检测,多数需要将对样品
基于X射线荧光能谱法, 全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角,由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X射线光束几乎全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)主要包括:X射线源、光路系统、进样系统、探测器、数据处理系统及其他附件,下文主要介绍前四部分。一、X射线源:由高压发生器及射线管组成。提供初级X射线,对样品中待测元素进行激发得到X射线荧
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时,受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测,与样品内待测元素的含量相关,此为XRF光谱仪的理论依据。根据分光系统的不同,XRF光谱仪
水质分析对水资源保护、合理开发及污染处理等方面有着重要作用。常见的检测手段包括ICP-MS、ICP-OES、AAS、AFS等。AFS、AAS一次只能测定一种元素,检测多个元素多采用 ICP-OES或 ICP-MS法,但二
TXRF是一种能量色散X射线荧光(EDXRF),其中X射线以很小的入射角照射以薄层形式沉积在样品台上的样品,进而产生全反射效应。样品应以液体/悬浊液形式沉积在载体(样品台)上,然后干燥,以便仅留下较薄的薄层。如果样品为粉
大米是我们日常生活中最常见的主食主要粮食。随着工业化、城市化的发展,城市及郊区的土壤成为重金属的主要累积场所,土壤中的重金属可通过“土壤-植物-人”的途径进入人体,对人体健康产生潜在威胁。如砷(As)、镉(Cd)可引发人
高沸点石油化工产品及其衍生物中痕量元素的检测是一项挑战性工作,目前检测手段主要为AAS、ICP-OES、EDXRF等。样品测量结果与样品前处理息息相关。前处理方法包括稀释样品,灰化法分解样品,湿法分解样品等。但是这些前处
固体废弃物(简称固废)指生产、生活及其他活动中产生的固态、半固态废弃物,包括生活垃圾、工业、农业废弃物等。重金属是固体废弃物中的污染成分之一,无论工业废弃物,还是生活垃圾,重金属污染都是不容忽视的因素。与有机污染物相比,
2021年9月27-29日,两年一届的北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2021)再次如约而至。新的疫情大背景,新的举办场馆,唯有仪器人的热情不减,本次展会更是破纪录的启用4个大型展馆,让更多仪器厂商登上舞台,为国内分析行业发展推波助澜。利曼中国此次携多款明星产品在1号馆亮相,吸引不少参观者驻足了解。新款EA3100有机元素 (CHNS/O) 分析仪TurboFlash 动态燃烧技术,克服燃烧屏障,轻松面对复杂基体,分析速度快;气管连接件均采用快
第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2021)将于9月27-29日在中国国际展览中心(天竺新馆)举办,作为国内分析测试领域专业化程度和知名度颇高的盛会,BCEIA在促进国际间的科学技术交流,推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展起到重要作用。利曼中国作为知名分析仪器供应商,在日益发展的中国市场,旨在为国内用户提供性能优异的产品及先进的解决方案。两年的守候,利曼再次与您相约,诚挚邀请您届时光临我们的展台,为您展示我们不断创新的分析产品和技术
尊敬的各位专家、老师: 欢迎您能在百忙之中关注并支持利曼中国举办的元素无标精确定量技术交流会——全反射X荧光光谱技术(TXRF)前沿应用。TXRF 作为一项全新技术,如下几大看点:无标精确定量无其它消耗,低运行成本多元素检出限可达ppt级别微量检测(5-20μL)本次交流会具体安排如下,时间:2017年11月7日 13:30—17:30地点:清华大学 热能工程系 系馆报告厅报告
作为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会,第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2015)于10月27-30日首次移师较为现代化的国家会议中心举办,无论从展馆面积,还是展商数量等方面均创历史新高。 作为国内知名分析仪器供应商,利曼中国携近几年新合作厂商的当家产品盛装参加此次展会。 全球吹扫捕集仪的鼻祖——美国Tekmar公司,早在1976年即推出世界首台吹扫捕集产品。如今,Tekmar已成为业内VO
HORIZON 全反射X荧光光谱仪
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