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仪器简介
TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声,亦可减少样品使用量。
TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上,创新光学编码器的步进电机,保证精确角度测量,软件控制Mo/W靶可自由切换,采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。
应用范围
TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量,可进行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),广泛的应用在环境分析(水、灰尘、沉积物、大气悬浮物),制药分析(生物体液和组织样品中的有害元素),法医学(微小证据分析),化学纯度分析(酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂),油品分析(原油、轻质油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半导体材料分析(挥发相分解),核材料工业(放射性元素分析)。
主要特点■ 单内标校正,有效简化了定量分析,无基体影响;■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析;■ 多元素实时分析,可进行痕量和超痕量分析;■ 不受样品的类型和不同应用需求影响;■ 独特的液体或固体样品的微量分析,分析所需样品量小;■ 优良的检出限水平,元素分析范围从钠覆盖到钚;■ 出色的动态线性范围;■ 无需任何化学前处理,无记忆效应;■ 非破坏性分析,运行成本低廉。
TX 2000 全反射X荧光光谱仪,TX 2000
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HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于法医学领域
HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于染料分析领域
HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于半导体材料领域
HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于油品分析领域
HORIZON 全反射X荧光光谱仪
全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析方法,特别适用于样品量小的样品,一次分析所需样品量,固体材料可达μg级,液体样品则通常少于100μL。TXRF受自身原理限制,样品于玻片上必须满足薄层的要求,以消除普遍存在于ED
古老的油画和历史手稿是宝贵的文化遗产,这些文物所用的颜料和墨水等原料让人们能够深入了解艺术史实等信息。此外,对油墨等原料的相关检测还能够提供原产地溯源、真伪等诸多信息,甚至对后续的修缮工作具有指导性作用。在诸多检测手段中
常见难溶样品如:碳化硼、碳化硅、氮化硼在磨料、特种刀具、核工业等领域有广泛的应用。其杂质元素检测通常采用ICP-OES、GD-MS、DCA、ICP-MS等设备,部分标准如下:GB/T 3045-2017 普通磨料 碳化硅
全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限(低至ppt或pg),与其它具有类似元素检出限的检测手段相比,具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析,这是原子
全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析(Microanalysis)方法,特别适用于样品量小的样品,一次分析所需样品量,固体材料可达微克级,液体样品则通常少于100μL。但一般原样很少能直接上机检测,多数需要将对样品
基于X射线荧光能谱法, 全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角,由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X射线光束几乎全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)主要包括:X射线源、光路系统、进样系统、探测器、数据处理系统及其他附件,下文主要介绍前四部分。一、X射线源:由高压发生器及射线管组成。提供初级X射线,对样品中待测元素进行激发得到X射线荧
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时,受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测,与样品内待测元素的含量相关,此为XRF光谱仪的理论依据。根据分光系统的不同,XRF光谱仪
此项工作是对此前介绍的空气颗粒物(PM)滤膜检测方法的改进。用一种新型专用实验室仪器实现空气颗粒物(PM)滤膜的X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)检测。同时进行XSW和TXRF检测的主要优点是可以区分样品
酱油是东亚和东南亚地区常见的烹饪佐料,具有比较复杂的基体,包括高盐分基质(NaCl高达15%)和其他相关15%的有机组分。在之前的文献中,并无此类样品中微量元素测定的方法,同时也没有提出全反射X射线荧光(TXRF)的检测
APD 2000 PRO 粉末X射线衍射仪
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