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国仪量子扫描电镜SEM5000适用于微观形貌项目,参考多项行业标准。可以检测花粉等样品。可应用于空气/废气行业领域。
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SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计,高压隧道技术(SuperTunnel)、低像差无漏磁物镜设计,实现了低电压高分辨率成像,同时磁性样品可适用。光学导航、完善的自动功能、精心设计的人机交互,优化的操作和使用流程,无论经验是否丰富,都可以快速上手,完成高分辨率拍摄任务。
电子枪类型:高亮度肖特基场发射电子枪
分辨率:1.0 nm @ 15 kV;1.5 nm @ 1 kV
放大倍率:1 ~ 2,500,000 x
加速电压:20 V ~ 30 k
样品台:五轴全自动样品台
分辨率高,低加速电压下实现高分辨成像
电磁复合物镜,减小像差,显著提高低电压下的分辨率,而且可观察磁性样品
高压隧道技术(SuperTunnel) ,在隧道中的电子能保持高能量,减少了空间电荷效应,低电压分辨率得到保证
电子光路无交叉,有效的降低系统像差,提升分辨能力
水冷恒温物镜,保证物镜工作的稳定性、可靠性和可重复性
磁偏转六孔可调光阑,自动切换光阑孔,无需机械调节,实现高分辨率观察或大束流分析模式快速切换
扫描电镜国仪量子SEM5000 可检测花粉,SEM5000
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ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
JJG(教委) 11-1992 扫描电子显微镜检定规程
JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
JJG 550-1988 扫描电子显微镜试行检定规程
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
JB/T 5384-1991 扫描电子显微镜.技术条件
GOST R 8.594-2009 确保测量一致性的国家体系.扫描电子显微镜
GB/T 31563-2015 金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法
KS M 0044-1999 扫描电子显微镜的一般规则
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KS I 0051-2019 扫描电子显微镜的一般规则
ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量方法
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