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OSP薄膜测厚仪

科美仪器(昆山)研发有限公司

OSP薄膜测厚仪

仪器简介:  标准模式  工业规格  手动样品台  自动调焦   技术参数: 活动面积:86.4 x 64.8㎛ 波长范围:420~640 nm 厚度测量范围:350

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