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仪器简介:
标准模式 工业规格 手动样品台 自动调焦 技术参数: 活动面积:86.4 x 64.8㎛ 波长范围:420~640 nm 厚度测量范围:350Å~3㎛ zei小光斑尺寸:1.35㎛,0.135㎛ 透镜旋转台:5X,50X 可测量层:1 样品台尺寸:200mmX200mm Z轴可重复性:± 1㎛ Z轴自动调节结构: Z direction Head Movement Travel range : 50mm Max. velocity : 50mm/s
主要特点:
非接触式,非破坏式 3D测量图像 可测量亚微米光斑 实样监控 易操作界面 应用领域: 主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜
OSP薄膜测厚仪,ST2080-OSP
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