您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3,符合行业标准0。适用厚度,光学常数,各向异性项目。
技术参数:
* 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) * 微光斑可选50µm-100µm-1mm * 探测器:分别针对紫外,可见和近红外提供优化的PMT和IGA探测器 * 自动样品台尺寸:多种样品台可选 * 自动量角器:变角范围40° - 90°,全自动调整,小步长0.01° 主要特点: * 50KHz 高频PEM 相调制技术,测量光路中无运动部件 * 具备超薄膜所需的测量精度,超厚膜所需的高光谱分辨率 * 具有毫秒级超快动态采集模式,可用于在线实时监测 * 自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件 * 配置灵活
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米。此外,还可以测试材料的反射率及透过率。
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3,UVISEL
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
IGA array 探测器
Horiba PH110/ph120/ph130 便携式PH计 用于环保领域
HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
HORIBA XelPlex全自动表面等离子共振成像仪
群组论坛--光谱分析
您可能要找:堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3价格UVISEL 椭偏仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号