| 光谱范围 | 1100到1700 |
LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术，通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变，建立样品相应光学模型，计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。
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LE-103PV是Semilab针对光伏市场推出的一款低成本、高集成度的革新型产品，主要应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性。测试软件操作简单、界面友好、所使用的光学模型与Semilab全光谱椭偏仪丰富的数据库相兼容，方便用户根据实际测试需求建立专ye的测试菜单。 |
可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性 |
稳定、可自动校准的集成光路 |
优化设计的156mm多晶和单晶测试平台，方便用户转换单晶和多晶测量 |
自动变换入射角的设计提高了测试精度，并可实现表面特征雾度（Haze）的测试 |
采用旋转补偿器测量Psi（0～90°）和Delta（0～360°），可提供更高的测量灵敏度，同时可计算由粗糙表面引起的退偏系数 |
聚焦微光斑系统优化了反射信号的采集 |
可集成到在线测量系统，实现快速的在线监控 |
测试软件兼容PVECS |
太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试 |
二氧化硅等介质膜的厚度、折射率和消光系数测试 |
透明材料的光度学测试 |
激光波长： 632.8nm He-Ne激光器 |
测量时间： 100ms-2sec |
膜厚测量范围： 2nm-6000nm（基于SiO2） |
厚度测试精度： 0.01nm @120nm SiO2 on Si |
折射率测试精度：0.0005 @120nm SiO2 on Si |
WT-2000MCT是针对窄禁带半导体材料设计的温度寿命测试系统，可选择不同的测试模式，适用于多种窄禁带半导体材料。 |
| 操作模式：恒温整片扫描/单点温度扫描变温范文: 80K - 325K
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少数载流子复合寿命通常是温度的函数 |
窄禁带半导体在室温下其非平衡载流子处于热激发状态 |
可测样品: HgCdTe, InSb, GaAs, etc.
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LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)
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