J.A. Woollam alpha 2.0 台式光谱椭偏仪

一、简介

J.A. Woollam 公司成立于 1987 年，由内布拉斯加大学林肯分校的科研成果衍生而来，长期专注于光谱椭偏测量技术的研发与制造，已在全球安装超过 2000 套椭偏仪系统，广泛应用于半导体、显示、光伏、光学镀膜与新材料等领域的科研与生产。优尼康科技代理该品牌椭偏仪，提供选型咨询、安装培训、售后技术支持与样品测试协助。

alpha 2.0 面向常规薄膜厚度与光学常数的快速测量需求，将光谱椭偏测量集成在一台体积紧凑的台式设备中，通过 USB 与计算机连接。操作流程简化为放置样品、选择匹配膜层的模型、点击测量三步，数秒内即可获得结果。

设备采用双旋转（Dual-Rotation）光学设计与 CCD 检测，配备自动样品对准与自动样品高度调节。支持 65°、70°、75° 三个入射角手动切换，并可做 90° 直通的透射测量。

数据采集与分析在 CompleteEASE 软件中完成，软件内置 Lorentz、Gaussian、Harmonic、Tauc-Lorentz、Cody-Lorentz 等多种色散模型，可对介电膜、半导体膜、有机膜与吸收膜做拟合分析。

二、技术特点

一键式操作：放置样品、选择模型、点击测量三步完成，配套软件自动完成拟合与结果输出，常规检测无需专门培训。

双旋转光学设计：Dual-Rotation 架构配合 CCD 检测，单次同步采集 190 个波长点，兼顾测量速度与重复性。

多基底适配：在玻璃等透明基底上测量时，设备通过测量退偏振校正来自基底背面的反射光，避免背面回光干扰光学常数的拟合结果。

多角度可选：入射角支持 65°、70°、75° 手动切换，并提供 90° 直通的透射测量配置，厚膜测量可通过多角度提高拟合可靠性。

自动对准：自动样品对准与自动样品高度调节，降低操作人员经验差异带来的测量偏差。

超薄膜灵敏：椭偏测量的相位信息对 10nm 以下的薄膜敏感，可用于自组装单分子层等超薄膜的评估与比较。

体积紧凑：整机为台式设计，占用实验台面积小，便于在教学实验室与常规检测工位布置。

三、应用

面向单层与简单叠层薄膜的厚度与光学常数测量，输出折射率 n、消光系数 k、成分、折射率梯度与各向异性等参数。

介电薄膜：硅或玻璃基底上的单层介电膜可在数秒内完成测量，结果以图形与表格两种方式记录，便于对比。

自组装单分子层：用于 10nm 以下超薄膜的评估与快速比较。

吸收薄膜：配合 Lorentz、Tauc-Lorentz、Cody-Lorentz 等模型，适用于非晶硅、多晶硅、类金刚石碳、有机材料、有机 LED 薄膜与 SiC。

玻璃基底镀膜：校正透明基底背面回光后获得准确光学常数，并可解析折射率沿膜层深度的梯度分布。

常规来料检验与教学实验：操作门槛低、测量速度快，适合批量样品的快速筛查与高校实验室教学使用。

本地化服务与技术支持：该机型由 J.A. Woollam 制造，优尼康科技代理并提供选型咨询、安装培训与售后技术支持。如需评估样品适用性，可寄送样品或由工程师协助测试，确认测量方案后再行采购。

四、指标参数

J.A. Woollam alpha 2.0 台式光谱椭偏仪信息由优尼康科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于J.A. Woollam alpha 2.0 台式光谱椭偏仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。