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全自动化&高集成度&可视化光斑
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
1. 液晶调制技术,无机械转动部件,重复性,信噪比高
2. 专利技术成像系技术,所有样品均可成像,对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.
3. 反射式微光斑,覆盖全谱段,利于非均匀样品图案化样品测试
4. 全自动集成度高,安装维护简便
5. 一键式操作软件,快速简单
6. 自动MAPPING扫描,分析样品镀膜均匀性
1. 光谱范围:450-1000 nm
2. 多种微光斑自动选择
3. 专利光斑可视技术,可观测任何样品表面
4. 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm
5. 70度角入射
6. CCD探测器
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1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域
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HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪,Auto SE
HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于 HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
Auto SE是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具,仅需简单的几个按键操作,即可完成全自动测量和分析。仅几秒钟即可完成样品分析,并提供完整的样品堆叠特性报告-包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性。
产品名称:一键式全自动快速椭偏仪 产地:法国 型号:Auto SE01 仪器用途及应用范围Auto SE 是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮,几秒钟内即可自动完成样品测量和分析,并提供完整的薄膜特性分析报告,包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。有机电子材料薄膜厚度、光学常数表征膜层各向异性分析
产品名称:椭圆偏振光谱仪 产地:法国 型号:UVISEL PLUS典型用户:NASA 戈达德太空飞行中心01 仪器用途及应用范围:UVISEL 是20 多年技术积累和发展的结晶,即使在透明的基底上也能对超薄膜进行最精确的测量。作为一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机
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当今社会,各行各业,就连我们的生活,也被智能化,集成化所包围,一键式操作,简单、方便、省时,成为快节奏生活中的必备功能。为了赶此潮流,近来HORIBA科学仪器事业部也推出了一款高度自动化、集成化的仪器:一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。它具体体现在哪些方面呢?接下来我们一起见证。一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE 采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质
您是否常常苦恼?设备几经转手,会使用的人越来越少自己建立的椭偏模型不敢确认测试结果总是不尽如人意,却又不知原因椭偏还可以做哪些材料的研究那么,来参加我们的培训班吧!6月19日至20日,HORIBA科学仪器事业部将在吉林师范大学(长春校区)举办椭圆偏振光谱仪用户培训班。培训内容包括测试条件优化、模型建立、仪器维护及软件使用,切实解决您科研工作中遇到的问题及疑惑。如此盛情,怎能拒绝?具体安排见下方:内容预报1.椭偏原理及应用2.DP2软件各项功能说明3.建模分
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