COSE光谱椭偏仪

COSE光谱椭偏仪是一款广泛应用于科研、工业领域的薄膜检测测量仪器。系科仪器凭借行业领先的微纳米薄膜测量创新技术，实现了光斑最小30微米，测试重复性0.01nm，测试速度约1s左右，Mapping多点测量等多项技术突破。 系科仪器提供先进的光学检测解决方案，促使科研&品质&生产，不断完善和进步。

光谱椭偏具有：单点测试速度约1 秒、笛卡尔/极坐标 2 种Mapping模式、RC/RC2/RA 3 种偏振结构、双光纤等性能。

特点

简单易用

一键完成厚度\折射率, NCS\Muller, 粗糙度等测试

高速测试

标准单点测试速度约1秒，优化可至0.3秒/点

广泛验证

经过广泛验证

应用拓展

可拓展在线化、全自动化、远程化

COSE 基本参数选型表

COSE光谱椭偏仪信息由系科仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于COSE光谱椭偏仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。