您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
仪器简介:
体材料和半绝缘衬底上的外延层的均匀性和mapping; 支持工艺开发和工艺控制 MOCVD和MBE沉积系统 离子注入和退火操作 金属沉积系统 金属层的薄膜厚度和均匀性 高方块电阻薄膜 – Ni薄膜 低方块电阻互连 – Ti, Pt, Au 监控亚表面损伤 晶片抛光和saw损伤,腐蚀去除 清洁和腐蚀工艺的均匀性 缓冲层沉积的晶片传输污染 HEMT, pHEMT LED中的非故意掺杂水平 Uniformity of initiation and nucleation layers used in GaN processing 前端工艺质量检测晶片 晶片准备 Cap沉积 Blanket FET channel implant 快速热处理 适用于2,3,4,6,8英寸的晶圆; 线性:小于±3%;
非接触方块电阻测量系统(涡电流)-四点探针,1510
非接触方块电阻测量系统(涡电流)-四点探针信息由科睿技术发展有限公司为您提供,如您想了解更多关于非接触方块电阻测量系统(涡电流)-四点探针报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
Orion Star A 便携式高端溶解氧测量仪
独立三槽-biometra TProfessional Trio 热循环仪
岩心/土壤高光谱成像仪
奥豪斯 SC310 pH电极
透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
激光单粒子效应模拟测量系统
超低温高效节能冰箱U410-HEF, U570-HEF, C660-HEF & U725-G
856电导率仪
群组论坛--测试分析仪器专家
您可能要找:半导体检测仪非接触方块电阻测量系统(涡电流)-四点探针价格1510半导体检测仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号