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非接触式光学膜厚仪AT-5000
本设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。缩短检查工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。
光学方式为大冢电子独创,不仅外形小巧,无论透明?粗糙还是易变形的样品,都可以实现非接触式的高精度测量。
特长
非接触式测量不透明、粗糙,易变形的样品
反复性?再现性高
无标准曲线也可知道绝对厚度
测量径很小,不受斑点的影响
样品位置无需调整,放进去即可。
稳定性高,不会产生误差,所以谁都能操作。
光学方式原理所以安全
式样
构成图?原理
构成图
任何人都会测量
原理
将光分别照射样品上下部测量距离基准面的距离。d=dall-(d1+d2)
比较测量方法
样品例子和测量方法的比较
测量案例
大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000, AT-5000
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激光粒径仪 ELSZ-2000
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