大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000

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AI问答

可以做哪些实验，检测什么？可以用哪些耗材和试剂？

非接触式光学膜厚仪AT-5000

本设备操作简单，放置样品即可测量的。一步到位。缩短检查工程，无标准曲线，精度高，分辨率高，轻松测量样品的绝对厚度。

光学方式为大冢电子独创，不仅外形小巧，无论透明?粗糙还是易变形的样品，都可以实现非接触式的高精度测量。

特长

式样

atsumispec(1).gif

构成图?原理

构成图

任何人都会测量

原理

将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)

比较测量方法

样品例子和测量方法的比较

	非接触光学膜厚仪	接触式膜厚仪	X线式膜厚仪	変位計
样品	凝胶片	○	×	○	○
不织布	○	×	○	×
金属板	○	○	○	○
树脂	○	○	○	○
多孔质	○	△	○	×
陶瓷	○	○	○	×
紙?木	○	○	○	×
测量条件	测量时间	○ 高速	○	○	○
非接触测量	○ 非接触	×	○	○
前处理	○ 不要	○	×	○

测量案例

大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000信息由大塚电子（苏州）有限公司为您提供，如您想了解更多关于 大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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