bet测试最小质量
BSD-PS4型bet吸附仪,bet测定仪,bet比表面仪,bet测定仪，具有4个样品预处理脱气站，4个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1.5%。测试范围：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌，远销海外，获得多项......
贝士德BET比表面积测试仪及孔径分析仪性能参数测试理论吸附、脱附等温线测定； BET比表面测定(单点/多点法)； ......
测定： BET（单点、多点）、Langmuir、外表面测定 BJH孔径分布测定： 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布 微孔常规分析： &......
仪器简介：技术参数：及孔径分布测试、总孔体积和平均孔径测定；测试过程完全自动化，智能化， 测量范围： ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 2~ 200nm ; 样品数量：2~4个； 测量精度：≤± 2% ； ......
微孔bet比表面积分析仪 JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪，完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备有“涡轮分子泵”及1torr小量程压力传感器，配合微孔分析模型的准确应用，完全实现了微孔的精确分析，氮吸附微孔 小孔径实际可测达0.35nm......
测定仪技术参数 测定仪测定范围： ≥0.01m2/g，无规定上限 测定仪样品数量： 4个（1个标准样，3个被测样） 测定仪测试效率： 平均每个样品5分钟 测定仪重复精度： ≤±2％ 测定仪工作气体： 高纯氦/......
bet比表面积仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 （发明专利号2014103204......
自Orbitrap技术2005年问世，超过60,000篇SCI论文发表量，遥遥领先其他质谱技术。在组学研究、食品及环境研究、生物制药研究、临床等多领域提供助力，从未停歇。赛默飞 Orbitrap Exploris 质谱仪家族是具有高分辨率、精确质量 (HRAM)，用于定量分析的液相色谱质谱联用仪 (LC-MS)，能为您的实验室提供顶级性能表现。 全新......