荧光成像系统品牌
EVOS FL细胞荧光成像系统高品质荧光显微成像，专利光路，无需暗室EVOS FL细胞荧光成像系统提供高质量图像，适用于各种应用领域，如多通道荧光成像、蛋白分析、病理研究、原位成像等。无目镜一体设计，操作简便。EVOS FL成像系统具有极大的灵活性可满足绝大多数成像研究者的应用需求。产品特点：多通道荧光和明场图像采集高品质细胞成像无目镜一体设计，无需暗室可配......
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的终极工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是......
荧光显微镜系统为高级的成像和分析 LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验，多定位，Z堆叠，和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件，处理，定量和分析。选项模块FRET技术，高级的时间间隔，通道不混溶，共定位，多孔板采集，......
荧光显微镜系统为高级的成像和分析 LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验，多定位，Z堆叠，和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件，处理，定量和分析。选项模块FRET技术，高级的时间间隔，通道不混溶，共定位，多孔板采集，3D呈现和去卷积......
荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低......
点击查看下载安捷伦红外Agilent LDIR 激光成像系统 Agilent LDIR 激光成像系统相关资料，进一步了解产品。 如果您既可以节省时间又能获得更出色的结果，那将会怎样？Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统为您提供全新的尖端化学成像和光谱分析能力。针对专家和非专家使用而设计的 8700 LDIR 提供了一种简单的高度自动化方......
荧光显微镜系统是高级的成像和分析工具，LASXWidefieldSystems徕卡AF6000是一个全面的解决方案，适用于荧光显微镜和图像分析应用，包括延时实验、多位置、Z堆叠和去卷积。该系统集成了硬件和软件，具有最高的可靠性和标准功能，包括文件、处理、定量和分析。此外，选件模块包括FRET技术、高级时间间隔、通道不混溶、共定位、多孔板采集、3D呈现和去卷积......
荧光显微镜系统为高级的成像和分析LASXWidefieldSystems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案，在荧光显微镜和图像分析中应用包括延时实验，多定位，Z堆叠，和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与文件，处理，定量和分析。选项模块FRET技术，高级的时间间隔，通道不混溶，共定位，多孔板采集，3D呈现和去卷积技术扩展分析功能。......
荧光显微镜系统是高级成像和分析的LASXWidefieldSystems徕卡AF6000综合应用系统解决方案，用于荧光显微镜和图像分析应用，包括延时实验、多定位、Z堆叠和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能，包括文件、处理、定量和分析。选项模块FRET技术、高级时间间隔、通道不混溶、共定位、多孔板采集、3D呈现和去卷积技术扩展了分析功能。为......
荧光显微镜系统是一种先进的成像和分析设备，LASXWidefieldSystems徕卡AF6000是一个全面的应用系统解决方案，适用于荧光显微镜和图像分析，包括延迟实验、多位置、Z堆叠和去卷积。硬件和软件集成了最高的可靠性和图像纳入标准功能，包括文件处理、定量和分析。选项模块FRET技术、高级时间间隔、通道不混溶、共定位、多孔板采集、3D呈现和去卷积技术扩展......