仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪;MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光......
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型号:Lambda 650/850/950
珀金埃尔默Lambda 650/850/950紫外可见分光光度计(PerkinElmer)Lambda 650/850/950参考多项行业标准。完成的检测。可以用在多个行业领域中的项目。 仪器简介: Lambda 650/850/950紫外/可见/近红外分光光度计是PERKINELMER公司在集多年先进经验制造的,代表了目前世界此类仪器ze......
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型号:Lambda 650/850/950
珀金埃尔默紫外Lambda 650/850/950可用于测定,适用于项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 光谱带宽: ≤0.17nm ≤0.05nm ≤0.05nm 波长准确度: ±0.1nm &pl......
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型号:Cary 7000
安捷伦紫外Cary 7000可以用在高分子材料行业领域,用来检测涂层晶圆,可完成反射率,透射率 项目。符合多项行业标准。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。Cary 7000 UMS 和固体进样器有望成为用于光学材料、涂层以及工业和实验室各种应用中组分表征的重要工具。 &nbs......
安捷伦紫外Cary 7000用于测定涂层晶圆,符合行业标准。适用反射率,透射率 项目。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。Cary 7000 UMS 和固体进样器有望成为用于光学材料、涂层以及工业和实验室各种应用中组分表征的重要工具。 将 Cary 通用型测量附件......
安捷伦紫外Cary 5000可以用在建材/家具行业领域,用来检测滤光片,玻璃,可完成表征,透射性,杂质检测和识别项目。符合多项行业标准。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选,便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置,以便对各种类型和尺寸的样品进行测量。C......
安捷伦紫外Cary 60参考多项行业标准。完成滤光片,玻璃的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的表征,透射性,杂质检测和识别项目。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选,便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置,以便对各种类型和尺寸的样品进行测量。Car......
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型号:Lambda 650/850/950
点击查看下载Lambda 650/850/950紫外Lambda 650/850/950可见分光光度计(PerkinElmer) 用-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法相关资料,进一步了解产品。 光谱带宽: ≤0.17nm ≤0.05nm ≤0.05nm ......
BGSA 带隙态分析软件 钙钛矿 / 有机太阳能电池能隙态分析软件BGSA 是一款先进的太阳能电池带隙分析软件,适用于钙钛矿和有机太阳能电池等多种材料。结合 Enlitech QE-R、FTPS 和 REPS 系统获取的 PV-EQE、高精度 EQE 和 EL-EQE 测试数据,BGSA 可以快速分析太阳能电池材料的带隙态特征,并通过比较不同控制参数下的带隙......