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赛默飞上海演示中心XPS正式开放对外服务

发布时间: 2015-09-22 00:00 来源:赛默飞世尔科技(中国)有限公司

为 了更好地服务赛默飞世尔科技的广大客户,赛默飞世尔科技上海应用开发实验室于2015年9月1日起对外提供XPS样品测试服务和XPS应用培训服务,旨在 为客户提供具有世界一流性能的科学仪器的同时,为客户提供从测试需求到产品研发以及应用的全方位、一体化的解决方案。对于测试样品,由专人负责接收,样品 测试完毕后提供《客户样品分析报告》和原始数据。

XPS系统配置:

赛默飞上海应用实验室的XPS系统为ESCALAB 250Xi,可实现卓越的XPS分析能力和高分辨的定量XPS平行成像功能;250Xi 有标配的ISS和REELS功能。该系统上配有最新的单粒子和气体团簇复合型离子枪(MAGCIS),可实现对有机聚合进行无损深度剖析,以及UPS功 能。ESCALAB 250Xi作为完全开放性的拓展平台,现已配备扩展的原位样品反应、制备系统,满足准原位催化反应、样品退火等需求。

XPS功能及应用:

XPS是研究材料表面和界面元素化学信息的重要手段,可提供物质最表面10nm(~30个原子层)层内的元素定性、定量信息和化学状态信息;可对层 状器件(或薄膜器件)进行深度剖析,了解元素随深度分布的情况;也可对非均相覆盖的表面元素及其化学态进行XPS平行成像,给出不同(化学态的)元素在表 面的分布行为。XPS可检测从Li到U的所有元素的定量和化学态分析检测,结合REELS功能还可进一步对有机物和储氢材料中的H元素含量进行检测。主要 应用领域有:催化分析、钢铁耐腐蚀、微电子器件、薄膜器件、能源电池、玻璃显示屏、航空航天、生物医药等行业。

UPS:

利用UPS(紫外光电子能谱)可研究固体样品的价带能级结构及功函数等信息,结合REELS功能可进一步对半导体的带隙、导带信息等进行探测。

样品要求:

1.样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性,无挥发性,无放射性。如需检测磁性样品,需要预先申明。

2.样品须为固态样品(片状、块状或粉末);粗颗粒粉末样品须用研钵将样品研细,样品在送样分析前须进行干燥处理。

3.在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染,不可用手触摸样品表面。

收费细则:

1. 常规XPS测试:600 RMB/样,包含全谱分析加C、O除外5个元素的窄谱测试;超过5个元素,按每个元素50 RMB加收收费。微量元素检测酌情计时收费。

2. 深度剖析:每剖析一层按一个样品收费,另按600 RMB/小时加收费用;

3. XPS线扫描、面扫描等多点分析:每点按一个样品计费。

5. XPS平行成像:根据需要计时收费,600 RMB/小时。

6. 角分辨XPS测试:根据需要计时收费,600 RMB/小时。

7. UPS、REELS、ISS检测,根据需要计时收费,600 RMB/小时。

8. 原位反应+XPS联合测试:根据需要计时收费,3000RMB/小时,需要提前一周以上预约。

9. 现场XPS应用培训:为期3天,培训费用4000RMB/人,食宿自理。根据用户基础,内容可包括XPS样品制备、常规XPS测试程序设置以及数据分 析;XPS平行成像、深度剖析、角分辨XPS等高级培训;REELS、ISS、UPS技术应用和数据处理。需提前一个月预约。

 

赛默飞世尔科技  表面分析

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