带隙 紫外
仪器简介： 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光......
卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping（光致发光）光谱仪 应用于科研领域仪器简介： 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）......
卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping（光致发光）光谱仪 应用于半导体LED产业中的品质检测 仪器简介： 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高......
BSD-PM高性能比表面积及孔径\隙度分析仪属于研究级仪器，可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据，尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果，适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。 比表面积及孔径\隙度分析仪产品特点： 全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示； BEST多路歧管模块......
测试原理 / Test Principle在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相......
Acktar 涂黑气隙宽带低反射率镀膜从EUV 到 SWIR 吸光度 99%缝隙尺寸低至 25μm x 3mm备有未封装和已封装版通用规格外径 (mm):9.53 ±0.1构造 :Stainless Steel涂层:Magic Black™缝隙长度 (mm):3.0厚度 (mm):0.02 nominal吸收率:99Acktar 涂黑气隙......
Lambda 650/850/950紫外Lambda 650/850/950紫外可见分光光度计(PerkinElmer) 用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法
参考成交价格： 暂无
型号：Lambda 650/850/950
珀金埃尔默紫外Lambda 650/850/950可用于测定，适用于项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 光谱带宽： ≤0.17nm ≤0.05nm ≤0.05nm 波长准确度： ±0.1nm &pl......
紫外Lambda 650/850/950紫外可见分光光度计(PerkinElmer)珀金埃尔默 用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法
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型号：Lambda 650/850/950
珀金埃尔默Lambda 650/850/950紫外可见分光光度计(PerkinElmer)Lambda 650/850/950参考多项行业标准。完成的检测。可以用在多个行业领域中的项目。 仪器简介： Lambda 650/850/950紫外/可见/近红外分光光度计是PERKINELMER公司在集多年先进经验制造的，代表了目前世界此类仪器ze......
Lambda 650/850/950紫外Lambda 650/850/950可见分光光度计(PerkinElmer) 用-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法
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体样品测试解决方案，采用千万分之四超低杂散光设计。主要特点：- 用户可以根据需要选择150mm积分球附件基本型、眼镜专用检测附件和60mm积分球附件基本型搭配T10进行测试。- 可以测试浑浊液态样品透射、粉末样品的反射、固体样品的透射和反射。- 测试领域涉及染料、纸张、布匹、塑料等颜色测量、建筑玻璃测试、眼镜测试、药品分析、生物试剂分析、材料分析等，其中独特......