白炭黑检测仪器

白炭黑专用真密度仪 型号JW-M100测试原理气体置换法测试项目真密度、真体积、固体材料的孔隙率测试范围0.0001g/mL 至 无限大分辨率0.0001g/mL测试效率每次测试仅需3min吸附质气体N2, He仓体配置样品腔样品杯转换仓10mL10mL无100mL100mL10mL质量10kg分析模块长:133 mm;&nbs......

白炭黑比表面快速测试仪    JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。    (发明专利号2014103......

白炭黑比表面积

参考成交价格: 1.28万元[人民币]

冠测 孔径分析仪/静态比表面

型号: BETA202A

获取电话 在线询价 闪电回复

                            比表面积及孔径测试仪                    &n......

精微高博孔径分析仪JW-BK300系列可以用在塑料行业领域,用来检测白炭黑,可完成材料分析项目。符合多项行业标准GB/T 10722-2014。 白炭黑是无定形二氧化硅。硅的4 价键性使其具有很强的空间成键能力,也使得无定形二氧化硅具有发达的三维网状结构。白炭黑粒子的三维网状结构以及一次粒子团聚形成聚集体过程中形成的毛细孔道,使其具有丰富的孔结构和较大的表面......

精微高博橡胶添加剂比表面分析仪JW-BK400类型适用于材料分析项目,参考多项行业标准GB/T 10722-2014。可以检测白炭黑等样品。可应用于塑料行业领域。 白炭黑是无定形二氧化硅。硅的4 价键性使其具有很强的空间成键能力,也使得无定形二氧化硅具有发达的三维网状结构。白炭黑粒子的三维网状结构以及一次粒子团聚形成聚集体过程中形成的毛细孔道,使其具有丰富的......

精微高博孔径分析仪JW-BK300C参考多项行业标准GB/T 10722 - 2003。完成炭黑的检测。可以用在炭黑行业领域中的材料分析项目。 外表面积来源于炭黑的外表面积,它是一个特定的概念。炭黑作为橡胶的补强剂,其补强效果与炭黑的比表面相关,但当炭黑表面的孔径很小时,橡胶分子进不去,这部分孔的内表面不起补强作用,应于扣除,因此把扣除橡胶分子进不去的那些孔......

精微高博比表面JW-DX用于测定三元材料,符合行业标准。适用比表面测试项目。 测试范围: 比表面0.01m2/g至无上限;重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站: 4个;升降系统: 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且......

精微高博孔径分析仪JW-BK300C用于测定白炭黑,符合行业标准GB/T 10722-2014。适用材料分析项目。 白炭黑是无定形二氧化硅。硅的4 价键性使其具有很强的空间成键能力,也使得无定形二氧化硅具有发达的三维网状结构。白炭黑粒子的三维网状结构以及一次粒子团聚形成聚集体过程中形成的毛细孔道,使其具有丰富的孔结构和较大的表面积。白炭黑的微观结构是其特殊用......

精微高博白炭黑比表面快速测试仪JW-DX用于测定硅碳负极材料,符合行业标准。适用比表面积测试项目。 白炭黑比表面快速测试仪    JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负......

精微高博孔径分析仪JW-BK222参考多项行业标准。完成材料的检测。可以用在纳米材料行业领域中的材料分析项目。 BET比表面积是包含外表面和所有通孔的内表面积在内的总表面积;外表面是扣除小于2nm微孔的内表面积以后的表面积,显然,BET比表面与外表面之差即为小于2nm的微孔的内表面积,这已演变成为计算微孔内表面积的一种方法。 P0位:可实时、准确测量氮气的饱......