材料结构分析检测
佳谱科技锂电新材料三元前驱体元素分析仪JP500 新能源 矿产领先的新能源材料检测技术，精准分析性能数据，助您掌控研发全局。了解更多，提升效率创新检测科技，精准掌握新能源材料性能，适用于多种应用场景，为研发提供可靠支持。优化新能源研发过程！选用智能新能源材料检测仪，确保实验数据精准可靠，品质有保障。佳谱科技高精度X射线荧光元素分析仪佳谱科技三元前驱体多元素分......
在最短的测量时间内提供出色的数据质量SAXSpoint 5.0 采用高光谱纯度和无散射光束准直的高亮度 X-射线束。配备强大的微焦斑光源或 MetalJet X-射线源和高性能光学元件，可在极短的曝光时间内提供出色的测量结果。结合最新的混合光子计数 (HPC) 探测器，可确保获得高质量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 结果，以实现纳米结......
安东帕X射线散射仪安东帕SAXSpace用于测定沉积在硅基底的FeO 纳 米 颗 粒，符合行业标准。适用化学品检测纳米结构分析项目。 沉积在硅基底的FeO纳米颗粒GI-SAXS的测量可以通过SAXSess mc² 新的GI-SAXS样品台来实现。 SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。......
Sievers/威立雅总有机碳TOC分析仪Sievers M9e可用于测定塑料包装结构材料，适用于TOC项目。并且参考多项行业标准USP 。可应用于塑料行业领域。 简介 M9e的规格运行规格*范围0.03 ppb至50 ppm精确度< 1% RSD 准确度± 2%或± 0.5 ppb（以较高者为准）显示读数3位有效数字样品类型自动进样器......
半导体材料微结构分析与评价 广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务,提供半导体材料元素成分分析,结构分析,微观形貌分析测试服务.CNAS资质认可,帮助客户全面了解半导体材料理化特性.服务范围半导体材料、有机小分子材料、高分子材料、有机/无机杂化材料、无机非金属材料。检测项目（1）半导体材料元素成分分析：EDS 元素分析，......
结构活性关系（SAR）分析--检测技术服务-详情结构活性关系SAR技术在处理大型和不断扩展的数据源方面发挥着越来越大的作用。结构活性关系技术被广泛应用，包括：虚拟化学文库的计算机模拟设计，以探索分子多样性进行后续合成和筛选；筛选专有的、商业化的和公共的数据库以发现先导化合物；以及，从微阵列实验中挖掘基因表达数据用于目标识别。SAR分析可以检测对生物体具有生物......
