堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测PDP等离子体显示屏等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) * ......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在涂料行业领域,用来检测玻璃和预蒸镀基底,可完成光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) *&......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定非晶碳薄膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定OLED封装器件,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米。此外,还可以测试材料的反射......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米。此外,还可以测试材......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZnO薄膜的检测。可以用在其他化工行业领域中的光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) * 微光斑可选50µm-100µ......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) * 微光......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测光伏器件等样品。可应用于多个行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测III-V族半导体,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于膜厚度,光学常数,组成项目,参考多项行业标准0。可以检测ZrO2薄膜等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层......