电子显微分析
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问： ......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
NANOS是一款功能全面且高性价比的台式扫描电子显微镜（SEM）。它采用最新技术设计，提供快速高质量的SEM成像和元素分析。主要技术特色标配高性能二次电子及4分割背散射探头一体集成式EDS探头，成像同时采集EDS结果标配低真空模式成像功能全自动马达控制及优中心倾转设计样品台配备性能优化灯丝直观友好用户界面设计低维护成本卓越的分辨率 Magnific......
配置丰富NANOS标配 二次电子探头（SED）、背散射探头（ BSD）、一体化集成能谱探测器（EDS） 及优中心设计样品台。设计优良NANOS采用了可靠的现代设计，并采用了最新的成像技术和成分分析探测器。售后维护方便NANOS的设计使您可以轻松进行维护和升级，这些维护和升级可以在您的场所完成，无需售后工程师上门。可靠性高凭借出色的稳定性和较小的占地面积，NA......
Semplor NANOS 分析型台式扫描电子显微镜 实时元素分析NANOS是一款功能全面且高性价比的台式扫描电子显微镜（SEM）。它采用最新技术设计，提供快速高质量的SEM成像和元素分析。主要技术特色标配高性能二次电子及4分割背散射探头一体集成式EDS探头，成像同时采集EDS结果标配低真空模式成像功能全自动马达控制及优中心倾转设计样品台配备性能优化灯丝直观......