Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。100mm自动XY样品台您还在位每人都希望要的功能而支付额外的费用吗?我们现在每台Pro......
1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响,触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制,对于峰峰值很小的表面,触针很难伸到谷底,测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量,锋利的针尖会划伤测量表面,同时触针使用一段时间后会产生磨损,都会使测量结果不可靠。因此非接触测量成为表面测量的一个重要方向。 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要......
Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪粗糙度测量的精简而经济的台式 ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装,可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能,并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量(WLI)创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界z......
Bruker布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪用于3D计量的全自动台式 ContourX-500光学轮廓仪是用于快速,非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头,可以完全编程,以在一定角度范围内测量表面特征,同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有无......
Bruker布鲁克ContourX-200 3D光学轮廓仪用于表面纹理计量的灵活台式 ContourX-200光学轮廓仪将先进的特性,可自定义的选项以及易用性 融合,可提供yi 流的快速,准确和可重复的非接触式3D表面度量。具有测量功能的小尺寸系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和新型电动XY位移台,可提供毫不妥协的2D / 3D高分辨......
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性,超出了接触式仪器的可能,使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的,而不损坏样品。不敏感的材料类型,该系统的WL......
结合了十多年的包装光学特性专门知识,CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层,并包含了一系列先进的功能,为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面,提供了......
Bruker布鲁克ContourX-1003D光学轮廓仪是一款简化而经济的台式粗糙度测量设备。ContourX-100光学轮廓仪以最佳价格为准确和可重复的非接触式表面计量设立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装,提供无与伦比的2D/3D高分辨率测量功能,并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量(WLI)创新技术。该台式系统具有业界最先进的用户友好界面,可直观访......
Bruker布鲁克ContourX-2003D光学轮廓仪是一款用于测量表面纹理的灵活台式设备。ContourX-200光学轮廓仪结合了先进的特性、可定制的选项和易用性,可以提供快速、准确和可重复的非接触式3D表面测量。该系统采用小尺寸设计,配备大视场5MP数码相机和新型电动XY位移台,提供2D/3D高分辨率测量功能。同时,ContourX-200还配备了行业......
布鲁克的ContourX-5003D光学轮廓仪是一款全自动台式设备,用于进行3D表面测量。这款轮廓仪集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头,可以完全编程,用于在特定角度范围内测量表面特征,并且最大程度地减少了跟踪误差。ContourX-500具有无与伦比的Z轴分辨率和精度,并且在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪(WLI)落地式机型的所有业界公认的优势。用户......