布鲁克光学轮廓仪

1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响,触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制,对于峰峰值很小的表面,触针很难伸到谷底,测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量,锋利的针尖会划伤测量表面,同时触针使用一段时间后会产生磨损,都会使测量结果不可靠。因此非接触测量成为表面测量的一个重要方向。 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要......

Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪

参考成交价格: 暂无

布鲁克 其它光学测量仪

型号:Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪

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Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪粗糙度测量的精简而经济的台式 ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装,可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能,并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量(WLI)创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界z......

产品简介SJ5900光学型轮廓仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度光学曲面测量仪。采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高稳定性气浮隔震系统、高性能计算机控制系统技术,实现对球面及非球面光学元器件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。专业为非球面镜片的大曲面测试,通过高稳定性的气浮隔震系统保证仪器不受外界振动影......

chotest国产光学轮廓仪基于白光干涉技术,分辨率达0.1nm,以3D非接触方式测量分析划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量等,覆盖半导体、3C电子、光学加工、汽车零部件、MEMS器件等领域,兼容多种材质(透明、高反光、黑色等)。chotest国产光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高......

SuperViewW系列光学表面形貌轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量......

高精度光学轮廓仪

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 轮廓仪/粗糙度仪

型号:SuperViewW1

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SuperViewW高精度光学轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品......

白光干涉光学轮廓仪厂家

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 其它光学测量仪

型号:SuperViewW系列

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在微纳测量领域,精度就是生命线。SuperView W1系列白光干涉光学轮廓仪厂家,以白光干涉技术为核心,各项指标均达到行业水平。1.重复性:粗糙度RMS重复性可达 0.005nm(依据ISO 25178标准,测量Sa为0.2nm硅晶片)。2.台阶测量精度:准确度达 0.3%,重复性 0.08% (1σ)。3.超高分辨率:Z向扫描范围10mm,形貌重复性ST......

SuperViewW光学显微形貌轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产......

光学表面轮廓仪系统

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 其它光学测量仪

型号:SuperViewW系列

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中图仪器SuperViewW光学表面轮廓仪系统一体化高精度测量粗糙度与轮廓度。它以0.1nm级分辨率、8μm/s扫描速度、300+种标准参数,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。一、行业应用1.半导体制造:适配硅晶片研磨减薄后的粗糙度检测、光刻槽道轮廓测量,助力头部企业工艺良率提升......

3维光学轮廓仪

参考成交价格: 暂无

纳腾 轮廓仪/粗糙度仪

型号:3维光学轮廓仪

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概要3维形象测量仪利用光的干涉,具备0.1nm高度分辨力,可以纳米单位轻松、 快速、准确地测量1nm~10mm的表面形象。相比接触式方式,不会对测量物造成 丝毫损害,且相比共焦方式,无关透镜倍率,具备相同的高度分辨率, 可准确测量,相比AFM方式,可快速测量更宽的领域。特点测量以0.1nm单位的高分辨率 · 可以多种FOV大小测量 · 无论倍数为多少,都具备......

厂商新闻
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