布鲁克光学轮廓仪
1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响，触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制，对于峰峰值很小的表面，触针很难伸到谷底，测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量，锋利的针尖会划伤测量表面，同时触针使用一段时间后会产生磨损，都会使测量结果不可靠。因此非接触测量成为表面测量的一个重要方向。 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要......
Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪粗糙度测量的精简而经济的台式 ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装，可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能，并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量（WLI）创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界z......
Bruker布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪用于3D计量的全自动台式 ContourX-500光学轮廓仪是用于快速，非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头，可以完全编程，以在一定角度范围内测量表面特征，同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有无......
chotest国产光学轮廓仪基于白光干涉技术，分辨率达0.1nm，以3D非接触方式测量分析划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量等，覆盖半导体、3C电子、光学加工、汽车零部件、MEMS器件等领域，兼容多种材质（透明、高反光、黑色等）。chotest国产光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高......
在微纳测量领域，精度就是生命线。SuperView W1系列白光干涉光学轮廓仪厂家，以白光干涉技术为核心，各项指标均达到行业水平。1.重复性：粗糙度RMS重复性可达 0.005nm（依据ISO 25178标准，测量Sa为0.2nm硅晶片）。2.台阶测量精度：准确度达 0.3%，重复性 0.08% (1σ)。3.超高分辨率：Z向扫描范围10mm，形貌重复性ST......
