icp测量显微镜
开拓了激光显微镜的界限。 -总是值得信赖的影像和测量- 激光扫描显微镜的优势 非接触式、无损、快速成像和测量 ○ 非接触式、无损测量 激光扫描显微镜(LSM)采用低功率激光，不接触样品。因此，不像基于探针系统的接触式表面粗糙度测量仪那样存在损坏样品的风险。 ○ 无需前期准备即可......
Agilent ICP Go 是 ICP-MS 的一种基于浏览器的简洁软件界面，用于控制安捷伦 ICP-MS 上的分析运行。ICP Go 可兼容 Agilent 7700、7800、7850、7900 ICP-MS 以及 8800 和 8900 ICP-MS/MS 仪器，使用户可以利用存储的模板快速设置和运行样品批次。ICP Go 还支持通过网络连......
徕卡数码显微镜Leica DCM8 可以用在多个行业领域，用来检测表面测量，可完成徕卡3D表面测量系统项目。符合多项行业标准。 全面了解3D表面测量学在工业和研究中，，高精度表面分析发挥着至关重要的作用，它可以帮助确保材料和组件实现令人满意的性能，但同时也面临着诸多挑战∶表面结构错综复杂，高倾斜度区域要求横向分辨率达到数微米，而关键性微观峰谷要求垂直分析达到......
安捷伦Agilent 电感耦合等离子体质谱仪7900适用于金属杂质项目，参考多项行业标准。可以检测20% 氢氧化铵等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 提升您的期望 — 新型 Agilent 7900 ICP-MS 开启了 ICP-MS 的新纪元。新型 Agilent 7900 ICP-MS 将再次重新定义 ICP-MS：与 7700 ICP-MS......
安捷伦Agilent ICP-OES5800适用于-项目，参考多项行业标准。可以检测食品等样品。可应用于药品包装材料行业领域。 您是否需要对ICP-OES样品进行多次重复测量？ICP-OES使用中，需要重新测量的常见问题有哪些？如何避免这些问题？ICP-OES电子书帮您解决 任何其他 ICP-OES 仪器无法让您对样品和仪器状态有如此深入的了解。5800 ......
赛默飞ICP-AESICP-OES可以用在地质行业领域，用来检测用含钛基体金红 石、四氯化钛、TC4，可完成ICP-OES方法项目。符合多项行业标准SN/T 4758-2017 、YS/T 655-2016、GB/T 4698、SN/T 3910-2014标准。 这款紧凑的台式 ICP-OES 可同时分析样品中的所有痕量元素。其垂直炬管定向系统提供出色的耐......
点击查看下载5110ICP-AESAgilent ICP-OES ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量 相关资料，进一步了解产品。 很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因，重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成......
点击查看下载Agilent ICP-OESICP-AES5800 ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量 相关资料，进一步了解产品。 很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因，重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成......
点击查看下载5900 ICP-OES ICP-AES安捷伦 样本相关资料，进一步了解产品。 很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因，重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成本高昂。 必须重新测量样品的原因通常分为两类：仪器相关问题和......
点击查看下载Agilent 5900 SVDV ICP-OES 安捷伦ICP-AES ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量 相关资料，进一步了解产品。 很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因，重新测量样品都非常费时......