三维光学显微镜
正置反射光及透射光镜架我们的模块化正置显微镜镜架可实现针对特定应用的配置。镜架采用科勒照明穿过透镜后焦平面实现均匀光线分布，最终获得精确的图像。照明器上方的无限远空间可以容纳光学组件和激光输入器件。现已推出两个正置显微镜系列产品。BX3M系列专为反射光应用而设计的该系列产品可以实现反射光明场、暗场、DIC和偏振成像BX3系列BX3系列专为透射光和荧光成像而特......
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统 设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系统进行配置，以便完全适用于您的样本。具有最佳的精确度和可......
STELLARIS 5 Cryo是一个共聚焦光学显微镜系统，可以帮助您针对感兴趣的区域进行定位以辅助冷冻电子断层扫描(CryoET)。STELLARIS 5 Cryo为您提供可靠的目标定位精准度, 同时还能提供您可以信赖的卓越性能，并提高实验效率。您获得的优势以简单、可靠且高效的方式进行共焦三维目标结构定位以辅助后续的冷冻电子断层扫描受益于STELLARIS......
完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力，在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作人员方便和成像能力来解决如此广泛的生产计量应用。为满足最苛刻的研发、质量保证和过程质量控制需求而设计，Contour Elite X提供了最终的量具能力三维光学......
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性，超出了接触式仪器的可能，使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的，而不损坏样品。不敏感的材料类型，该系统的WL......
Contracx-200光学轮廓仪提供了先进的特性，可定制的选择完美的混合，并易于使用的最佳级别，快速，准确，可重复的非接触式三维表面计量。该量具能力，小足迹系统提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量能力，使用更大的FOV 5 MP数码相机和新的机动XY舞台。由于拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，Contracx-200提供了Bruker公司专有的白光干......
结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了......
HD 9800+3D大格式表面轮廓系统是世界上最先进的用于在线数据存储滑块计量学的光学轮廓仪。该系统将可测量光学表征技术与先进的自动化技术相结合，使PTR和平坦度测量性能得到优化。HD 9800+结合了几十年的工业高清计量经验，使用白光干涉测量(WLI)，自我校准，LED高强度照明，操作友好的软件，以及一系列其他功能，以提供稳健，高分辨率，无......
立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计，这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全自动化和生产接口，大型电动XYZ级，头部倾斜/倾斜，以及一个完整的空气隔离台。设计从地面到最苛刻的研发，质量保证，和过程质量控制的需要，CONTEBGT-X提供了最终......
Contracex-100型光学轮廓仪在最佳价格点上为精确和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能，在一个流线型封装，融合了几十年的专利布鲁克白光干涉测量(WLI)的创新。下一代增强包括一个新的5 MP相机和更新阶段的更大的缝纫能力，和一个新的测量模式，USI，为精密加工表面，厚膜和摩擦学应用更大......