三维光学显微镜

正置反射光及透射光镜架我们的模块化正置显微镜镜架可实现针对特定应用的配置。镜架采用科勒照明穿过透镜后焦平面实现均匀光线分布,最终获得精确的图像。照明器上方的无限远空间可以容纳光学组件和激光输入器件。现已推出两个正置显微镜系列产品。BX3M系列专为反射光应用而设计的该系列产品可以实现反射光明场、暗场、DIC和偏振成像BX3系列BX3系列专为透射光和荧光成像而特......

STELLARIS 5 Cryo是一个共聚焦光学显微镜系统,可以帮助您针对感兴趣的区域进行定位以辅助冷冻电子断层扫描(CryoET)。STELLARIS 5 Cryo为您提供可靠的目标定位精准度, 同时还能提供您可以信赖的卓越性能,并提高实验效率。您获得的优势以简单、可靠且高效的方式进行共焦三维目标结构定位以辅助后续的冷冻电子断层扫描受益于STELLARIS......

NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性,超出了接触式仪器的可能,使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的,而不损坏样品。不敏感的材料类型,该系统的WL......

结合了十多年的包装光学特性专门知识,CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层,并包含了一系列先进的功能,为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面,提供了......

中图仪器SuperViewW1白光干涉三维光学轮廓仪基于白光干涉原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等,能以3D非接触方式对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等......

中图仪器VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜是基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学......

中文名:三维石墨烯英文名:3D graphene货号:G494572产品介绍:产品规格与参数sku名称规格G494572-01三维石墨烯60%G494572-02三维石墨烯60%查看阿拉丁官网此产品相关对应页面:https://www.aladdin-e.com/zh_cn/G494572.html产品目录:材料科学 > 电子材料 > 碳纳米材料(碳纳米管、......

SuperViewW三维形貌光学轮廓仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可......

SuperViewW光学轮廓三维形貌仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可......

厂商新闻
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