金属镀层厚度检测仪
荧光强度：对于X荧光光谱仪来说，各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系；荧光强度越高，则统计误差越小，测量的准确度越高，仪器性能越好。 仪器介绍 针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
仪器简介 EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面能满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。 EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色......
能量色散荧光光谱仪检测器又称探测器，是种能量转换器，能对光子进行计数。在与光电子作用时，它可以储存每次入射光子的全部能量。光子流越弱，检测器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射线检测器有气体能量转化器、半导体能量转换器和闪烁计数器。 仪器简介 EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面能满......
X-射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 仪器简介 EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面能满足贵......
X光管发射的X射线，经过滤光片后，X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱，然后经准直器变成平行光束，照射在样品上．样品受到激发，随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束．再经过准直器的准直进入半导体探测器，探测器本身具有能量分辨能力，可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光，探测器输出的信号经放大器的放大后入运算装置，由于探测器输出的信号......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对......