镀层厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：- &n......
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.仅需具备基本电脑技能的任何人可在数......
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本多两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机......
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统 &n......
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
Thermo Scientific ™ ShadowMaster 测厚仪对各种材料提供准确、可靠的厚度测量，极大地改善生产过程的控制、改进质量和提高生产率。此测厚仪具有安装快、使用成本低、投资回报率高等特点。特征——厚度测量不受材料类型、颜色的影响。——非放射性，无需许可证——非接触式，不会在产品上留下划痕——片材温度60℃以下，无需仪表空气或水......
技术参数：X射线在线测厚仪： 应用：浮法玻璃生产线冷端厚度和应力测量 测量范围：1－20mm 精度：0.1% 主要特点：特点： 1 测量精度高 2 安装维护方便 3 使用安全环保 4 长期稳定性好 5 在线测量厚度和应力，提高产品质量，降低成本 ......
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是基于薄膜的反射光干涉原理，用于测量和分析薄膜厚度。适用于半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。 工作原理光学薄膜厚度测量系统，是基于薄膜的反射光干涉原理，用于测量和分析薄膜厚度。它利用波长范围为200-1700nm的光垂......