z1显微镜
Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受针尖损坏。独立的XY扫描器平板扫描器和Z扫描器可带来无与伦比的精确度和分辨率。Accurate AFM Solutions for General ResearchTall Sample 1.5 µm s......
晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆制造厂检查和分析、裸晶圆和衬底的自动缺陷检测以及CMP轮廓测量。Park NX-Wafer具有最高的纳米级表面分辨率和亚埃级的高精度。在持续扫描后，探针针尖的变化可以......
Park NX-Hivac用于故障分析与敏感材料研究的高真空原子力显微镜Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比，高真空测量具有准确度高、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点，因此用户可测量各种故障分析应用中许多信号响应，例如扫描扩散电阻显微术(SSRM)的掺杂......
Park FX40 纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得最敏锐、最清晰、最高分辨率的扫描图像。通过前所未有的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致，全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警系统和故障自动保险......
The Fully Automated AFM for Accurate Inline Metrology of Hard Disk Head Sliders that makes doing great work simpler.Park Systems的PTR系列是针对全自动工业级线上的原子力显微镜解决方案，适用于（不限于）长形条、磁头万向节组件(H......
Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析，从而加快缺陷的检查过程。Park NX-H......
专为超大纳米平板显示器测量而设计的自动化原子力显微镜（AFM）系统随着对大型平板显示器原子力显微镜计量需求的增加，Park NX-TSH 通过利用探针扫描器和龙门式气浮台的结合，克服了针对大型和重型样品进行纳米计量的巨大挑战。Park NX-TSH能获得高分辨率的表面粗糙度测量，台阶高度测量和关键尺寸测量。 为OLED面板行业整片测量，超高尺寸镜片测量，提供......
全自动工业 WLI-AFM 系统Park NX Hybrid WLI是有史以来第一款具有内置WLI轮廓仪的AFM，用于半导体和相关制造质量保证。例如半导体前端、后端到高级封装的过程控制，以及研发计量。它适用于那些需要在大面积上进行高吞吐量测量的设备，这些设备可以缩小到具有亚纳米分辨率和超高精度的纳米级区域。 半导体计量的两种最佳互补技术。WLI: 白光干......
Park SmartScan™为用户提供原子力显微镜技术的强大功能Park SmartScan 是为Park原子力显微镜打造的革命性操作软件。即使是没有任何经验、没有经过任何培训的用户也可通过该软件制作高质量的纳米图像，而这一过程只需在自动模式下点击鼠标三下即可完成，这可以与专家团队利用传统技术制作的图像相媲美。SmartScan 手动模式适用于......
Park SmartLitho™Park SmartScan™ 的友好型界面支持用户进行纳米光刻和纳米操作SmartScan 可以自动进行成像所需的所有操作，并智能地确定最佳的图像质量和扫描速度。 Park的专有技术实现了SmartScan的自动化测量。可以帮助用户在最短时间内获得最佳的实验成果。最简易的纳米光刻和纳米操作的智能化软件由Smart......