白光共聚焦测量原理
Zeta-20 Optical Profiler产品描述Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜，可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本，适用于研发及生产环境。Zeta-20......
Zeta-388 Optical Profiler Zeta-388支持3D量测和成像功能，并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统，可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、低拥有成本，......
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系......
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8可以用在地矿/有色金属行业领域，用来检测半导体、纤维、金属、锂电池等，可完成半导体、纤维、金属、锂电池等项目。符合多项行业标准徕卡显微系统 圆派科学。 超景深显微镜LEICA DVM6下的不同世界，带你领略显微镜下之美 具有最佳的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂......
徕卡图像分析Leica DCM8用于测定半导体、纤维、金属、锂电池等，符合行业标准徕卡显微系统 圆派科学。适用半导体、纤维、金属、锂电池等项目。 超景深显微镜LEICA DVM6下的不同世界，带你领略显微镜下之美 Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作......
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8参考多项行业标准徕卡显微系统 圆派科学。完成半导体、纤维、金属、锂电池等的检测。可以用在高分子材料行业领域中的半导体、纤维、金属、锂电池等项目。 超景深显微镜LEICA DVM6下的不同世界，带你领略显微镜下之美 具有最佳的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌......
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8可用于测定无，适用于DM6 M微观结构成分分析解决方案项目。并且参考多项行业标准圆派科学官网。可应用于橡胶行业领域。 微观结构成分分析解决方案 DM6 M LIBS（徕卡显微镜） 超乎您的想象 Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式......
徕卡图像分析Leica DCM8可以用在电子/半导体行业领域，用来检测无，可完成DM6 M微观结构成分分析解决方案项目。符合多项行业标准圆派科学官网。 微观结构成分分析解决方案 DM6 M LIBS（徕卡显微镜） 超乎您的想象 Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用......
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8参考多项行业标准圆派科学官网。完成无的检测。可以用在纤维行业领域中的DM6 M微观结构成分分析解决方案项目。 微观结构成分分析解决方案 DM6 M LIBS（徕卡显微镜） 超乎您的想象 具有最佳的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌？使用高清共聚焦显微镜能够实......
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8适用于金相显微镜LEICA DM4M项目，参考多项行业标准圆派科学仪器。可以检测金属类等样品。可应用于高分子材料行业领域。 高品质成像选用金相显微镜LEICA DM4M Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设......