白光共聚焦系统

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激光共聚焦显微镜

型号:Revolution® DSD

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  Andor推出了新款共聚焦显微镜系统Revolution® DSD,是一款创新的白光碟片共聚焦成像系统。与其他的白光共聚焦系统不同,DSD (differential spinning disk) 通过降低背影,达到新的光切高度。无论使用10x~100x物镜、空气或水浸、油浸物镜,该技术都能保证成像效果达到高对比度......

仪器简介:雷尼绍公司于1992年推出RM系列激光显微拉曼光谱仪开始,在拉曼光谱领域开拓了一个新纪元。通过对产品各部件的革新,推出了配置更加灵活、使用更加简单、自动化程度更高的inVia系列激光显微拉曼光谱仪。目前,inVia已成为全球最畅销的高性能显微拉曼光谱仪。雷尼绍激光拉曼光谱仪运用雷尼绍在精密机械制造和创新工程方面的丰富经验设计而成,经久耐用,可升级、......

全新inVia Qontor是雷尼绍最先进的显微拉曼光谱仪。它以市场领先的inVia Reflex为基础,在inVia公认的性能和易用性方面又有了新的突破。全新inVia™ Qontor®共焦显微拉曼光谱仪全新inVia Qontor是雷尼绍zei先进的显微拉曼光谱仪。inVia Qontor引入了雷尼绍新的创新技术 — LiveTrack™实时聚焦追踪技术......

新一代共聚焦成像系统 STELLARIS激光共聚焦 标准有特定规范与标准,应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用,因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大,难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗......

中图仪器VT6000白光共聚焦测量显微镜以尼普科夫转盘共聚焦光学系统为测量原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数。它可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮......

中图仪器VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜光源采用白光LED,以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度。VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。仪器的隔震设计能够消减底面振动噪声,仪器在部分环境中稳定可靠,具有良好的测量重......

中图仪器VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜光源采用白光LED,以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度。VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。仪器的隔震设计能够消减底面振动噪声,仪器在部分环境中稳定可靠,具有良好的测量重......

中图白光共聚焦显微镜以白光LED为光源,主要用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。它以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度。中图白光共聚焦显微镜集成X\Y\Z三个方向调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。产品功能1)3D测量功能:设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺......

VT6000国产白光共聚焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它以共聚焦技术为原理结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器......

From Eye to InsightLEICA DM8荧光共聚焦系统|材料科学应用宣传册PRODUCT / 产品介绍产品介绍从点扫描光路到多维成像,建立材料研究的完整观察能力DM8· HIGH SENSITIVITY · HIGH RESOLUTION · MULTIDIMENSION从清 晰 二 维 图 像,扩 展 到  X Y Z 与时 间维......

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