精密加工仪器

仪器简介: ME天平采用人体工程学设计使常规称量变得轻松高效。基本功能唾手可得,日复一日为您提供精确而可靠的称量结果。 简单可靠 梅特勒托利多的称量技术确保获得稳定、精确的结果。 ME 天平提供快速而可靠的结果。 内部校正提供了简便、快速的一键式天平校正方式。   易于操作,读数清晰......

SEM-FIB(Scanning Electron Microscope-Focused Ion Beam),通常被称为双束电镜(DB,Dual Beam),双束流即电子束和离子束。其主要有三个作用:沉积、加工、成像。  Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser PFIB提供了无与伦比的能力,极端大体积3D分析......

 气相色谱中常用的载气有氢气、氮气、氲气,纯度要求99% 以上,化学惰性好,不与有关物质反应。载气的选择除了要求考虑对柱效的影响外,还要与分析对象和所用的检测器相配。色谱柱主要有两类: 填充柱和毛细管柱(开管住)。柱材料包括金属、玻璃、融石英、聚四氮等。色谱柱的分离效果除与柱长、柱径和柱形有关外,还与所选用的固定相和柱填料的制备技术以及操作条件等许多因......

测厚仪的工作原理:荧光X射线测厚仪的工作原理是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。   仪器介绍    Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控......

 X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后入运算装置,由于探测器输出的信号......

功能:  能量色散X射线荧光光谱仪是基于X射线的一种分析手段,当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,形成一个空穴使原子处于激发态,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,跃迁时释放出的能量以辐射的形式放出便产生X荧光。X荧光具有特征的波长,对应的即是特征的能量,通过对光子的特征波长进行......

   荧光光谱仪又称荧光分光光度计,是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测,可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性,以及荧光的淬灭方面的信息。产品说明、技术参数及配置本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型高端测试仪,采用新一代探测器及多道技术,......

在有些情况,如:印刷线路板上的IC导线,接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言,测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求:1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......

精密测量仪器校准

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型号:精密测量仪器校准

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