日本电子 离子研磨仪
DART 实时直接分析离子源DART(Direct Analysis in Real Time即时直接分析)是无需样品制备的、能进行快速分析的新型离子源。 DART于2003年诞生于日本电子美国公司（JEOL USA, Inc. )的质谱应用实验室，是敞开式离子化技术中zei早被发明和商品化的电离方法，2005年2月获得匹茨堡金奖 pittcon Edito......
DART 实时直接分析离子源DART(Direct Analysis in Real Time即时直接分析)是无需样品制备的、能进行快速分析的新型离子源。 DART于2003年诞生于日本电子美国公司（JEOL USA, Inc. )的质谱应用实验室，是敞开式离子化技术中zei早被发明和商品化的电离方法，2005年2月获得匹茨堡金奖 pittcon Edito......
产品特点：◇ 敞开式质谱分析的先锋-JEOLDART于2003年诞生于日本电子美国公司（JEOL USA, Inc. )的质谱应用实验室，是敞开式离子化技术中zei早被发明和商品化的电离方法，2005年2月获得匹茨堡金奖 pittcon Editors Gold Award, 同年9月获得R&D100大奖。◇ 不需要前处理！在大气......
产品特点：◇ 不需要前处理！在大气压下能快速检测！无论何种形态、状态的样品，只需放在DART离子源出口处，不需要任何的前处理就能实时获取高分辨率的质谱图。通常的分析设备不能处理的样品如形状不规则或脏的，都可以直接进行分析。样品实例纸（纸币、名片等）、胶片、衣服、水果、蔬菜、调味品、饮料、体液、人的皮肤、杯子、混凝土等。检测实例药品及其代谢物、合成物......
DART的电离基于激发态的原子，分子与大气中的气体和样品的相互作用，氦气被导入DART，在针状电极放电后会产生等离子体，等离子体包括离子，电子和处于激发态（亚稳定）的原子及分子；等离子体中的大部分带电粒子被接地电极去除，只有处于激发态的中性气体分子才会被释放到大气中。根据需要可用加热器加热，以促进样品的汽化以及材料表面的热解吸。正离子激发态的氦原子与大气中的......
产品特点：高性能FIB镜筒JIB-4000采用高性能的FIB镜筒，zei大离子束流高达 60 nA，能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，制备100 μｍ以上用来观察的截面非常轻松。用户友好的FIB装置JIB-4000高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性。用户友好的外观和GUI设计，建立了使用方便的FIB系统。即使不是FIB专家也能够轻......
IB-09060CIS™ 低温冷冻离子切片仪易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤产品特点：带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。④在装有液......
EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。产品特点：用......
主要特点:高质量的透射电镜样品的前处理快速制备无需复杂的前处理zei小限度的表面损伤产品规格EM-09100IS离子加速电压1 ～ 8kV倾斜角Up to 6°(0.1°/步)离子束直径500μm(FWHM)Milling rate5m/min (加速电压:8 kV, Si换算) 使用气体氩气zei大样品尺寸2.8mm(长度)×0.5 mm(宽......
产品规格EM-09100IS离子加速电压1 ～ 8kV倾斜角Up to 6°(0.1°/步)离子束直径500μm(FWHM)Milling rate5m/min (加速电压:8 kV, Si换算) 使用气体氩气zei大样品尺寸2.8mm(长度)×0.5 mm(宽度)×0.1mm(厚度)压力测试潘宁规主抽真空系统涡轮分子泵CCD相机内置尺寸 重量......