日本电子 核磁
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，zei求分析效率的zei大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标： 1. 点分辨率：0.21nm； 2. 晶格分......
技术参数：1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm TEM点分辨：0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector） 2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x ......
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针（FE-EPMA），此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域，并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus，电子光学系统有了很大的改进，新的软件能提供更高的通量，并保持着极高的稳定性，能实现更广泛的EPMA应用。2003......
JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1，插拔样品杆；2，电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ～ x 200,000,000TEMx 20......
JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。产品特点：场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM&n......
JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 是能够同时实现高分辨率, 高质量精度和高速数据采集的新一代飞行时间质谱仪 ......
JED-2300/2300F 能谱仪JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。产品特点：JED-23......
2021年1月22日，日本电子株式会社（JEOL）全球同步发布300KV冷冻电镜的升级版JEM-3300,主要特点如下：1）更稳定的冷场发射电子枪2）全自动欧米伽能量过滤器3）最高加速电压300kV4) 自动进样装置5）自动单颗粒数据采集软件6）JEOL成熟的相位版技术7）高效全自动操作软件JADAS8）科勒照明光路等详细情况请咨询日本电子株式会......
TP-99010FDR 粉末供应装置用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。 该台式送粉器能稳定地供给亚微米～100μm左右的微细颗粒。 通过载气输送微细粉末。 还能够输送有着高聚集特性的1μm～纳米尺寸的微细颗粒。用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。该台式送粉器能稳定地供给亚微米～100μm左右的微细颗粒。通过载气输送微细粉末。还能够输送有着高聚集特性的1μm......
为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增大物镜极靴之间的间隙，也能获得高分辨率的图像。此外，电子束具有很强的穿透能力，即使厚样品也能观察到清晰的图像，这是超高压透射电子显微镜的最大优点。一般的透射电子显微镜样品由于极薄，失去了块状材料的性质......