离子研磨法
三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X几乎任何材质样品都可获得高质量截面，在没有任何变形或损伤的情况下揭开样品内部zei真实结构信息，在使用徕卡EM TIC3X之前，这类工作从未变得如此之简单。徕卡EM TIC 3X三离子束切割仪适宜处理软/硬复合、带有孔缝结构、热敏感性、脆性及非均质样品，获得样品截面，从而进行扫描电子显微镜（SEM），微区分析（E......
产品简介：独特宽场三离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，实现高质量无应力“切割”截面，几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍：可复制的结果Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。使用 Leica......
传统的机械研磨方式制备样品断面，断面不可避免的存在机械损伤和磨料嵌入样品引起的污染。使用氩离子束切割样品制备，可以制备出没有机械损伤和表面污染的平整断面，非常适用于 制备电池材料和部件的断面样品，从而进行扫 描电子显微镜结构表征分析。Thermo Scientific CleanMillTM 为电池断面样品提供了完善的氩离子束研磨方案，可实现对电子束敏感材料......
赛默飞型离子色谱ICS-2100用于测定饲料，符合行业标准氟离子标准工作溶液。适用氟离子项目。 氟离子选择性电极方法中测定溶液的pH 值须严格控制，溶液过酸或过碱都会影响氟离子测定结果。另外，高浓度的氟离子会使氟离子选择性电极出现钝化现象，测定的准确度会变差。因此，本文建立了一种简单的离子色谱法测定饲料中的氟离子。 电解样品前处理系统......
离子色谱Dionex™ Integrion™ HPIC™ 高压离子色谱Dionex Integrion HPIC 离子色谱法检测水泥中的氯离子
参考成交价格： 暂无
型号：Dionex Integrion HPIC
赛默飞Dionex™ Integrion™ HPIC™ 高压离子色谱Dionex Integrion HPIC可以用在建材/家具行业领域，用来检测水泥，可完成氯离子项目。符合多项行业标准国家标准物质研究中心 GBW（E）080268。 本文建立的硝酸常温直接提取后离子色谱法测定水泥中氯离子的方法，方法快速简单，避免了现行水泥氯离子检测的一些问题......
赛默飞离子色谱Dionex Integrion HPIC可用于测定海水，适用于测定海水中阴离子和阳离子项目。并且参考多项行业标准Curassboff K. Methods of Seawater Analysis[ M ]. 1983.。可应用于环境水/废水行业领域。 海水中的阴阳离子种类多,彼此之间的浓度差异比较大 ,因此对分析测定各种离子造成了一定的困难......
赛默飞离子色谱Dionex Aquion适用于测定海水中阴离子和阳离子项目，参考多项行业标准Curassboff K. Methods of Seawater Analysis[ M ]. 1983.。可以检测海水等样品。可应用于环境水/废水行业领域。 海水中的阴阳离子种类多,彼此之间的浓度差异比较大 ,因此对分析测定各种离子造成了一定的困难。对于海水中的硝......
赛默飞Dionex™ ICS-6000 HPIC高压离子色谱系统ICS 6000适用于海水中阴、阳离子的离子色谱法检测项目，参考多项行业标准渗透性函数曲线。可以检测海水等样品。可应用于环境水/废水行业领域。 海水常量元素是指海水中离子浓度大于 1× 103 mg/L 的离子，属于此类的阳离子有 Na+，K+，Ca2+，Mg2+ 等，阴离子有 F–，Cl–，B......
点击查看下载Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X离子研磨仪相关资料，进一步了解产品。 为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供：超薄切片，组织处理，高压冷冻，镀膜，临界点干燥，机械研磨抛光，离子束研磨，冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段，......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪
参考成交价格： 100~200万元[人民币]
型号：Leica EM TIC 3X
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 如今，离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微......