光学膜厚计原理
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、......
KD分析仍使用原有EBSD软硬件，只是样品更薄且经过电解抛光穿孔。由于衍射信号来自样品下侧几个或几十个纳米厚度的区域，该技术也被称为透射 EBSD（T-EBSD）。样品薄区的衍射范围较小，样品与探测器及极靴的几何位置是否理想是获得有效信号的必要条件之一。因此设计专门的样品座做TKD 分析就显得尤关重要。专为TKD分析的样品座，TKD即透射菊池花样演示分析......
仪器简介：球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体......
L-2B电磁膜厚计特点：测量薄的电镀层，如油箱内部和车船的油漆厚度L-2B电磁膜厚计 测定方法：电磁式 测定对象：磁性基体的非磁性涂镀层 测定范围：A栏：0~500 B栏：0.3~5mm 探头：双磁极 表示方法：指针式 电源：1.5V碱性电池*4个 尺寸及重量：220（W）*120（D）*150（H）mm 2.3公斤 L-2B电磁膜厚......
日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪 日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪的技术参数： 测定方法 电磁式 测定对象 磁性金属磁性涂镀层 测定范围 电磁式：0～1500um或0～60.0mils 测定精......
日本KETT 膜厚计 LZ-990 測定方式 電磁・渦電流式 測定対象 磁性金属 測定範囲 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils 測定精度 50μm±1μm、50μm-1000μm-±2％1000μm-2000......
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）· 通过区域传感器控制的安全构造· 搭载可私人定制测量顺序的强大功能· 即便是没有经验的......
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价，精度高无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手外观新颖，操作性提高非线性*小二乘法，实现光学常数解析（n：折射率、k：消光系数）对应膜种○ 多层膜 &nbs......
