sem照片 分析
入射电子与样品中原子的价电子发生非弹性散射作用而损失的那部分能量（30～50eV）激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子从样品表面逸出成为真空中的自由电子，此即二次电子。二次电子试样表面状态非常敏感，能有效显示试样表面的微观形貌，分辨率可达5～10nm。入射电子达到离核很近的地方被反射，没有能量损失；既包括与原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Tissue Samples，符合行业标准Oxford Instruments。适用Classifying Ultrastructure项目。 Understanding the cellular processes in tissue samples requires microscop......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature适用于Pore Fluids项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pore Fluids等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 岩芯分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物分析系统。结合大面积能谱......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature适用于Minerals and Metals项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Minerals and Metals等样品。可应用于高分子材料行业领域。 工艺矿物学与化学分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在地矿/有色金属行业领域，用来检测Metals alloys and ceramics，可完成Metals alloys and ceramics项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 材料成分和结构 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Microstructure and Mechanical Properties，符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
点击查看下载（原FEI) 赛默飞Verios XHR SEM 金属行业微观分析解决方案相关资料，进一步了解产品。 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不......