台阶仪 原理

P-7 台阶仪

科磊半导体 台阶仪

型号： P-7

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P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7......

Alpha-Step D-500台阶仪

科磊半导体 台阶仪

型号： Alpha-Step D-500

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Alpha-Step D-500 Stylus Profiler  Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述Alpha-Step D-50......

P-17 台阶仪

科磊半导体 台阶仪

型号： P-17

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P-17 Stylus Profiler  P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪，是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界，支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其......

P-170 台阶仪

科磊半导体 台阶仪

型号： P-170

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P-170 Stylus Profiler  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能，适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台，这保证了性......

Alpha-Step D-600 台阶仪

科磊半导体 台阶仪

型号： Alpha-Step D-600

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Alpha-Step D-600 Stylus Profiler    Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述......

KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪

科磊半导体 台阶仪

型号：D-300

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KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。    探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......

KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理

科磊半导体 半导体专用检测仪器设备

型号： P7

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P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。......

薄膜厚度台阶仪

中图仪器 台阶仪

型号：CP200

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中图仪器CP系列薄膜厚度台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。工作原理CP系列薄膜厚度台阶仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测......

纳米级高精度台阶仪

中图仪器 台阶仪

型号：CP200

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中图仪器CP系列纳米级高精度台阶仪用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。仪器采用了线性可变差动电容传感器LVDC，集成超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。CP系列纳米级高精度台阶仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面......

国产膜厚检测台阶仪

中图仪器 台阶仪

型号：CP200

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CP系列国产膜厚检测台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，可测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数。CP系列台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米......