台阶仪原理

P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7......

Alpha-Step D-500 Stylus Profiler  Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述Alpha-Step D-50......

P-17 Stylus Profiler  P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其......

P-170 Stylus Profiler  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性......

Alpha-Step D-600 台阶仪

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科磊半导体 台阶仪

型号: Alpha-Step D-600

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Alpha-Step D-600 Stylus Profiler    Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述......

KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。    探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......

P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。......

点击查看下载斯派克OES直读光谱仪 直读光谱工作原理相关资料,进一步了解产品。 电弧火花OES(火花OES)是斯派克固定式金属分析仪所用的分析方法。 SPECTROCHECK完全是在德国设计制造。设计团队和生产部门由经验丰富,极富才干的专家和工程师组成。设计制造理念秉承德国制造的高质量,高性能和高可靠性。精英团队结合世界最大光谱仪生产线,其结果:放心使用,超......

台阶仪

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阿尔派 台阶仪

型号:Nanomap-LS

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台阶仪,       NanoMap-LS 接触式三维表面台阶仪NanoMap-LS NanoMap -LS探针接触式 台阶仪 特点 探针台阶仪是利用探针扫描样品表面,仪器记录探针随样品表面高低起伏状态,整合数据得到台阶高度,表面形貌,沟槽深度等特征。 &nb......

台阶仪

参考成交价格: 暂无

阿尔派 台阶仪

型号:NanoMap-D(2)

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               台阶仪NanoMap-D是一款兼备了白光干涉非接触式和探针接触式的台阶仪。NanoMap-D三维台阶仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 该款仪器可以看做是表面研究的万用表,......

厂商新闻
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