零位椭圆偏振光谱仪
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜，适用于Al含量，膜厚度项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定溶液，适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） * ......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定阳极氧化铝表面，符合行业标准0。适用光学常数项目。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） * 微光斑可选50µm-100µm-1mm ......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜，适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于涂料行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） *&......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成电致变色器件的检测。可以用在涂料行业领域中的表面粗糙度，界面层项目。 The UVISEL Spectroscopic Ellipsometer is a powerful instrument for characterizing complete EC devices with high acc......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度，光学常数项目，参考多项行业标准0。可以检测光伏器件等样品。可应用于多个行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） ......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定封装应用中的势垒层，适用于过程控制项目。并且参考多项行业标准0。可应用于多个行业领域。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定有机半导体，适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成AIN的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的光学特性项目。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还......