硅 表面能
具有常规易用性的研究级分析： 干扰去除功能强大，即使在zei苛刻的基质中也能去除干扰Thermo Scientific系列台式微量元素分析仪器所提供的检出限zei低准确度和可重复性令人难以置信；亚ppt级常规分析方法开发简单（无论基质具有多大挑战）稳健、所需工程维护少，因而故障时间zei短 体验研究级分析的益处、扩大实验室的应用组合，确保您的操作......
2022年2月，安东帕自豪地发布最新一代比表面和孔径分析仪 Nova系列。 Nova x00系列是一系列全自动多通道静态体积法气体吸附仪，包含四个型号可供选择。可进行不同吸附质在不同温度下，相对压力范围从1x10-4至0.5或者0.999的等温线的测定，从而计算得到材料的比表面积、孔径分布和孔容的信息。 最新Nova 对硬件和软件作了全......
布鲁克能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）S2 PUMA Series Ⅱ用于测定铝，符合行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/246。适用能量色散 X 射线荧光光谱项目。 铝以其优越的性质，是世界上最广泛应用的金属之一。它有着低比重，耐腐蚀和高导电性，因此可应用于运输，包装和高压电线。铝与硅、镁等其他金......
岛津万能试验机AG-X用于测定 药品包装材料 ，符合行业标准《YBB00332002低硼硅玻璃安瓿》《YBB00322005-2中硼硅玻璃安瓿》。适用机械性能 项目。 岛津AGS-X 电子万能试验机，配合岛津非标特制夹具，可以满足标准《YBB00332002低硼硅玻璃安瓿》和《YBB00322005-2中硼硅玻璃安瓿》标准规定的要求，获取稳定测试曲线，同步性......
麦奇克拜尔全自动比表面和孔隙分析仪BELSORP MAX G可用于测定无孔石英砂，微孔高硅分子筛，多孔二氧化硅，适用于分析多种材料比表面积和孔容的方法项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/439。可应用于高分子材料行业领域。 广泛应用于催化剂、电池（全固态电池、燃料电池等）、纤维、高分子材......
安捷伦ICP-MS7900可用于测定太阳能（光伏）级硅块，适用于超痕量元素杂质项目。并且参考多项行业标准。可应用于生物质材料行业领域。 本文介绍了一种使用Agilent 7500cs ICP-MS 测定光伏级硅中存在的超痕量元素杂质的新型定量方法。硼（挥发性元素）和磷（受Si 基干扰）对该行业尤其重要；因此，为了利用ICP-MS 分析这些元素，应特别注意样品......
精微高博动态法陶粒比表面分析仪JW-DX可用于测定硅碳负极材料，适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 性能参数：仪器型号： JW-DX bet原理方法： 流动色谱法，低温氮吸附，常温脱附；测试功能： 直接对比法；测试气体： 高纯氮气（99.999%）+高纯氦气（99.......
精微高博白炭黑比表面快速测试仪JW-DX用于测定硅碳负极材料，符合行业标准。适用比表面积测试项目。 白炭黑比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，非常适合电池正负......
精微高博储能材料比表面快速测试仪JW-DX用于测定硅碳负极材料，符合行业标准。适用比表面积测试项目。 重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有4套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干扰；真空泵： ......
精微高博比表面JW-DX可用于测定硅碳负极材料，适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有4套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干......