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LEAP 5000 是 CAMECA 推出的先进的三维原子探针，具有三种基本配置：LEAP 5000 R / XR & XS。借助局部电极原子探针 (LEAP) 显微镜，科学家和工程师可以以近原子尺度分辨率对材料进行三维分析，深入了解材料的纳米结构是如何影响其功能特性。通过 LEAP 显微镜获取的信息，研究人员便可以将纳米尺度上发生的现象与宏观尺度上......
应用于高空间分辨率下同位素和痕量元素分析的SIMSNanoSIMS 50L是一款独特的离子探针，在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。产品概述NanoSIMS 50L能同时提供关键性能，而使用任何其他已知的仪器或技术只能部分提供这些性能：高分析空间分辨率（低至......
多功能SIMS工具：高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪（SIMS）产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率，已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基，III-V和II-VI族化合物器件、散装物料、薄膜等一系列颇具挑战性的应用进行改良，可充分满足行业对高效器件开发和过程控制的要......
原子探针可为研究和工业领域提供常规的高性能三维纳米分析。基于原子探针断层分析仪器和应用领域30年的成功经验，CAMECA开发了EIKOS™原子探针显微镜，应用于合金的快速研制和纳米级材料研究。EIKOS可提供2种配置：EIKOS基础EIKOS系统采用反射器设计，可提供出色的质量分辨能力和信噪比。预先对准的集成反电极确保易用性和高可靠性。电压脉冲系统在各种冶金......
半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。高深度分辨率和高通量随着器件尺寸不断缩小，当今半导体的注入物剖面和层厚度通常在1-10纳米的范围内。SIMS 4550通过提供碰撞能量可从5keV降至低于150......
适用于放射性样品的带屏蔽功能的电子探针显微分析仪SKAPHIA为核样品的处理和分析提供了安全的环境以及基准分析性能，使科学家能够更深入地了解燃料性能，探索辐照材料行为和辐射损伤过程，开发新型合金和结构材料，优化核燃料循环，实现更好的核废料管理……产品概述SKAPHIA是CAMECA最先进的EPMA仪器之一，几乎能够分析周期表中的所有元素，揭示放射性样品的主要......
应用于地球科学实验室的紧凑、高通量SIMSIMS 7f-GEO是单接收SIMS型号，专用于地质样品的高精度/高通量测量，即稳定同位素、稀土元素（REE）、痕量元素……该仪器也可应用于材料科学分析和环境研究。实现高同位素比值再现性的独特检测系统IMS 7f-GEO在我们业经验证的IMS 7f仪器的基础上开发而成，配备新型、独特的检测系统，并结合了双法拉第杯探测......
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。AKONIS：SIMS 为晶圆厂带去了卓越品质！除传统的通过表征实验室为半导体......
为世界领先的地质年代学研究提供的专用离子探针为了满足地质年代学家日益增加的需求，CAMECA推出了KLEORA，这款大尺寸几何结构SIMS仪器专门针对先进的U-Th-Pb矿物定年进行了全面优化。产品概述KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成，在高通量、易于使用的平台上为原位U-Th-Pb同位素分析提供基准灵......
第一款结合电压和激光脉冲操作的三维原子探针LEAP 6000 XR 继承了前几代 APT 的关键特性，在成熟的局部电极设计中增加了深紫外激光脉冲，以提供更高的产量和数据质量。通过与微尖阵列和重新设计的光学系统的兼容性，LEAP 6000 XR 提供了更高的易用性和全自动操作的潜力。产品概述CAMECA 的 LEAP 6000 XR 与微尖兼容，能够利用先进的......