表面能测试方法
储能材料比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 （发明专利号201410......
精微高博比表面JW-DX可用于测定金属粉末/铝粉，适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有4套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互......
精微高博比表面JW-DX系列可用于测定三元材料，适用于比表面测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 压力控制： 常压下进行吸脱附实验，全自动控制；数据采集： USB口数据采集卡及A/D转换器，采集速度快、精度高，兼容Windows 2000/XP 32位系统； 特点及优势：●动态测定，JW发明专利（专利......
精微高博孔径分析仪JW-BK400A参考多项行业标准GB/T19587-2017。完成银粉的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的比表面积测试项目。 球形银粉的表观性能（球形度、振实密度、比表面积、粒度分布）和烧结特能性能对正面电极导电性及光电转化效率有很大影响，且银粉烧结收缩性与比表面积相关，比表面积越大，银粉越容易烧结[1]。超细银粉通常与粘结剂、溶剂和......
精微高博比表面JW-DX适用于比表面测试项目，参考多项行业标准。可以检测三元材料等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 测试范围： 比表面0.01m2/g至无上限；重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有......
精微高博比表面JW-DX可用于测定硅碳负极材料，适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有4套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干......
精微高博比表面JW-DX参考多项行业标准。完成硅碳负极材料的检测。可以用在电池/锂电池行业领域中的比表面积测试项目。 重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有4套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干扰；真空......
精微高博比表面JW-DX可以用在冶金行业领域，用来检测金属粉末/铝粉，可完成比表面积测试项目。符合多项行业标准。 储能材料比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，......
精微高博储能材料比表面快速测试仪JW-DX适用于比表面积测试项目，参考多项行业标准GB/T24533-2019。可以检测正负极材料等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有4套......
精微高博比表面JW-DX适用于比表面测试项目，参考多项行业标准。可以检测三元材料等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 bet比表面积仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，非......