储能材料比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410......
精微高博储能材料比表面快速测试仪JW-DX用于测定硅碳负极材料,符合行业标准。适用比表面积测试项目。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站: 4个;升降系统: 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰;真空泵: ......
精微高博比表面JW-DX可用于测定硅碳负极材料,适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站: 4个;升降系统: 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干......
精微高博比表面JW-DX参考多项行业标准。完成硅碳负极材料的检测。可以用在电池/锂电池行业领域中的比表面积测试项目。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站: 4个;升降系统: 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰;真空......
精微高博比表面JW-DX可用于测定金属粉末/铝粉,适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站: 4个;升降系统: 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互......
精微高博比表面JW-DX可用于测定金属粉末/铝粉,适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 储能材料比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限......
精微高博比表面JW-DX可以用在冶金行业领域,用来检测金属粉末/铝粉,可完成比表面积测试项目。符合多项行业标准。 储能材料比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限降低一个数量级,......
精微高博比表面JW-DX适用于比表面积测试项目,参考多项行业标准GB/T24533-2019。可以检测正负极材料等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 储能材料比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试......
精微高博储能材料比表面快速测试仪JW-DX适用于比表面积测试项目,参考多项行业标准GB/T24533-2019。可以检测正负极材料等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站: 4个;升降系统: 4个样品位原位设有4套......
精微高博储能材料专用基础型比表面测试仪JW-BK222可以用在电子/半导体行业领域,用来检测导热粉体,可完成比表面积测试项目。符合多项行业标准。 随着5G时代的来临,智能手机、家电产品向着小型化、智能化发展,产品硬件的创新升级对其导热性能提出了新的要求,如:对导热材料的导热系数和长时间工作的导热稳定度要求逐渐提高。 P0位:可实时、准确测量氮气的饱和蒸汽压;......