tem 电子衍射 分析
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
产品规格加速电压≤ 200kV有效像素数量1900万像素（5688 *3336）传感器感光尺寸36.4mm x 21.35mm像素尺寸6.4um x 6.4um帧速58fps全像素模式记录模式图像，视频图像格式大尺寸5688*3366，中等尺寸2880*1680，小尺寸1248*1200文件格式TIFF、BMP、JPG快门类型全局快门安装位置底部安装（观察室......
多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构。 聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)树脂TEM图像利用“数码变焦”可以清晰观察片层结构。 胡萝卜叶TEM图像可识别叶绿体和线粒体的薄膜结构；此外，还可以观察膜结构细节。 &nb......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光......
Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光斑或低亮度光斑都有着不俗的表现。 多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials，适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物质材料行业领域。 聚合物添加剂分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
牛津仪器EDSX-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Construction Materials的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Construction Materials项目。 机械及电学性能 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获......