半导体 紫外光谱
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可以用在电子/半导体行业领域，用来检测亚纳米窄带滤光片，可完成表征项目。符合多项行业标准。 带通滤光片可以做为光栅单色器的廉价替代品，用于分离窄波长区域。许多商用的带通滤光片的最大半峰宽为10nm。本文主要使用安捷伦Cary系列高端分光光度计对亚纳米带通滤光片的半峰宽进行了表征。测试的三个......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片，适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，在 175-3300 nm 范围内具有......
安捷伦紫外Cary 5000适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于建材/家具行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各种类型和尺寸的样品进行测......
海洋光学 高性能光谱仪QE Pro参考多项行业标准。完成电子元器件的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的量子效率项目。 电致发光材料（Electroluminescent Materials）被广泛应用于各种显示、照明等领域。在电致发光材料性能表征的过程中，我们通常将待测样品加上恒定的电压，来测试器件的电流、亮度等参数。这些参数很多都受器件电阻的影响，因此......
安捷伦认证翻新 紫外可见分光光度计Cary 60适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各......
点击查看下载Maya 2000 pro海洋光学紫外 光谱仪相关资料，进一步了解产品。 仪器简介特性 90量子化率 USB 2.0 接口 低电子噪声 光学分辨率可达到 ~0.035 nm FWHM；分辨率取决于光栅的刻数和狭缝的大小 14种光栅选择，包括HC-1 复合光栅可覆盖175-1100 nm 范围 可选狭缝有 5 &......
点击查看下载海洋光学 光谱仪紫外 的应用案例相关资料，进一步了解产品。 10 板载的用户可编程 GPIOs数字接口 采用 SpectraSuite光谱仪操作软件 可运行在 Windows, Mac 或 Linux操作系统下.探测器特性 Maya 2000-Pro 探测器r: Hamamatsu S10420 结构: 背照式, 2D ......
点击查看下载 光谱仪海洋光学紫外 其他资料相关资料，进一步了解产品。 我们的Maya2000 Pro光谱仪具有较高的量子效率和较宽的动态范围，在深紫外波段（185-300 nm）有响应。 这一超深紫外光谱仪将光谱测量范围拓展至153 nm。用高灵敏度的超深紫外型Mayo 200 Pro可经济又便利地将光谱探测范围拓展至153 nm。 多种材料在真......
点击查看下载安捷伦Cary 4000紫外 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 由于仪器的光度线性范围限制，仪器随着光密度或浓度的增加测量吸光度的准确度会受到影响。光度线性度差会使仪器产生不正确的结果，并导致校准曲线变得非线性。滤光片技术的加入提供了一种简单而价廉的方法来证明大多数分光光度计的光度线性范围。本文主要介绍通过测试证明了新一代Cary40......
产品概述ATHF5010是奥谱天成精心研制的一款自动对焦、自动扫描的显微荧光高光谱成像仪，它的激发光为紫外光或者蓝光，分析发射光的光谱，并同时进行成像，从而实现不同微区位置的荧光光谱测试。它既可以进行空间成像，又可以扫描出每个位置的荧光光谱。一次快照可以在100ms内获得线性区域的空间和荧光光谱信息，通过对电动位移工作台的扫描，可以得到样品的荧光超立方体数据......